SediGraph III Plus 5125全自动Ｘ光沉降粒度分析仪

• 独特、可靠且成熟的粒度分析仪

• 在过去的 50 多年，是全球沉降粒度分析领域的标准

• 根据斯托克斯定律确定粒径

• 粒径分析时实时监测颗粒沉降过程并查看报告的粒径结果

• 全自动运行并通过先进的软件界面实现控制

• 可选配 MasterTech 自动进样器实现高通量测试

• 矿业、地质和陶瓷等众多主流行业的行业标准

• 符合 ASTM B761-06 和先进陶瓷委员会 C28 的要求

SediGraph III Plus 基于直接检测质量浓度确定粒度分布和统计数据，例如 D10、D50 和 D90。 只需一键即可获得基本和高级报告。 SediGraph III Plus 可选配 MasterTech 自动进样器，连续监测生产过程，并将数据推送到网络或云端以供远程访问。

性能与优点：

智能设计特性

SediGraph III Plus 粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。 全新功能使得仪器的操作和维护更加轻松，并且能够确保对同一样品在任意一台 SediGraphs 仪器上都能获得可靠、重现的结果。

设计改进包括

• 完整的颗粒分析，能够确保对样品中的所有颗粒进行分析，包括粒径小于 0.1 µm 的部分

• 能够与其他粒径测量方法获得的数据合并，从而将数据报告范围扩展到 125000 µm (125 mm)，在地质学方面有很好的应用

• 自下而上地扫描沉降池，能够准确地获取快速沉降颗粒的总数，同时尽可能缩短细颗粒分离所需的时间

• 全自动操作模式能够提高样品分析通量，并且减少人为操作步骤，以降低由人为操作造成的测量误差

• 温控分析可确保在整个分析过程中液体的性质保持恒定，获得精确的分析结果

• 多种分析速度，可根据实际需要选择速度和分辨率

• 实时显示，能够监控当前分析的累积质量图，以便根据需求即时修正分析程序

• 统计过程控制（SPC）报告能够跟踪过程性能，便于立即对波动变化作出响应

• 多图叠加功能，能够对分析结果进行可视化比较，例如，与参考样品或基线叠加，或将同一分析数据的两种不同类型结果图叠加

• 数据比较图，能够以图表形式显示两组数据集之间的数学差（与参考样品图的差异）或某个数据点值高于或低于容差范围的程度（超标图）

• 多分析仪控制，允许使用同一台计算机控制两台 SediGraph ，节省宝贵的实验室空间，方便数据存储

更多信息，欢迎咨询。

Micromeritics 是提供表征颗粒、粉体和多孔材料的物理性能、化学活性和流动性的全球高性能设备生产商。我们能够提供一系列行业前沿的技术，包括比重密度法、吸附、动态化学吸附、压汞技术、粉末流变技术、催化剂活性检测和粒径测定。

公司在美国、英国和西班牙均设立了研发和生产基地，并在美洲、欧洲和亚洲设有直销和服务业务。Micromeritics 的产品是全球具有创新力的知名企业、政府和学术机构旗下 10,000 多个实验室的优选仪器。我们拥有专业的科学家队伍和响应迅速的支持团队，他们能够将 Micromeritics 技术应用于各种要求严苛的应用中，助力客户取得成功。

更多信息，欢迎咨询。

Micromeritics 是提供表征颗粒、粉体和多孔材料的物理性能、化学活性和流动性的全球高性能设备生产商。我们能够提供一系列行业前沿的技术，包括比重密度法、吸附、动态化学吸附、压汞技术、粉末流变技术、催化剂活性检测和粒径测定。

公司在美国、英国和西班牙均设立了研发和生产基地，并在美洲、欧洲和亚洲设有直销和服务业务。Micromeritics 的产品是全球具有创新力的知名企业、政府和学术机构旗下 10,000 多个实验室的优选仪器。我们拥有专业的科学家队伍和响应迅速的支持团队，他们能够将 Micromeritics 技术应用于各种要求严苛的应用中，助力客户取得成功。