粉体行业在线展览
DTSP10-03
5-10万元
日本ncc
DTSP10-03
27
不限
产品特点
粒径测量范围:可对10μm以上的粗大粒子进行分级计量。
粒径区分:10μm、30μm、50μm、100μm,11~99μm范围内可以设定数值。
晶片尺寸:使用4英寸晶片进行采样。
最大测试范围:Ф80mm。
Trimming功能:具备Trimming功能,可进行更精确的测量。
切换显示:支持区分表示,可切换显示不同粒径范围的数据。
应用场景
无尘室监测:用于监测无尘室中的落尘情况,帮助评估无尘环境的质量。
产品表面污染检测:可检测产品表面附着的粗大粒子,有助于提高产品质量。
设备内部污染检测:适用于检测设备内部附着的尘埃,便于进行清洁和维护。
优势
高精度测量:能够精确测量10μm以上的粗大粒子,提供可靠的测量数据。
多种粒径区分:支持多种粒径范围的测量,满足不同应用场景的需求。
灵活的采样方式:使用晶片进行采样,适用于多种表面和空间的测量。
综上所述,DTSP10-03落尘计数器是一款适用于粉体行业,特别是对无尘环境和产品表面污染检测有需求的高精度测量设备。
粒径测量范围:可对10μm以上的粗大粒子进行分级计量。
粒径区分:10μm、30μm、50μm、100μm,11~99μm范围内可以设定数值。
晶片尺寸:使用4英寸晶片进行采样。
**测试范围:Ф80mm。
Trimming功能:具备Trimming功能,可进行更精确的测量。
切换显示:支持区分表示,可切换显示不同粒径范围的数据。
无尘室监测:用于监测无尘室中的落尘情况,帮助评估无尘环境的质量。
产品表面污染检测:可检测产品表面附着的粗大粒子,有助于提高产品质量。
设备内部污染检测:适用于检测设备内部附着的尘埃,便于进行清洁和维护。
高精度测量:能够精确测量10μm以上的粗大粒子,提供可靠的测量数据。
多种粒径区分:支持多种粒径范围的测量,满足不同应用场景的需求。
灵活的采样方式:使用晶片进行采样,适用于多种表面和空间的测量。
综上所述,DTSP10-03落尘计数器是一款适用于粉体行业,特别是对无尘环境和产品表面污染检测有需求的高精度测量设备。
FY-18
ZE
Quantum
Triton
MGI A
UV Arter S
Triton Green
DTSP10-03
ECS -9000
HZ7000系列
HZ-7000系列
syn-8000