ZEM-3 Series可同时测量热电材料的塞贝克系数和电导率；该系列设备具备精度高，易于使用等特点；热电材料塞贝克系数的测量方法是基于JIS标准。

应用：

评估半导体、陶瓷、金属等材料的热电性能。

特点：

1. 使用高精度的红外金面反射炉和微加热器进行温差控制；

2. 欧姆接触V-I自检系统；

3.测量由电脑控制，可以在指定的温度和温差系进行测量，并消除黑暗电动势的影响。

设备型号：

测量实例 P型Si₈₀Ge₂₀ ：