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电镜元素分析系统
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牛津仪器科技（上海）有限公司
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电镜元素分析系统
1776
旗舰款SDD传感器Ultim Max TLE，搭载于透射电子显微镜(TEM)，经过设计优化，提高了小束斑下的计数率，可表征原子尺度的元素信息。
这一性能是通过优化的晶体形状，100mm2大面积晶体，无窗结构，优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。
0.5 - 1.1srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中，在高至1000°C的温度下采集谱图
2830 ZT
ON-p
EMIA-Pro
XPERT
K-365
SUPEC 7020
HL-N20
TrueX系列（手持式）
在线铜离子含量分析仪
Metorex C100
A-380
CPG2/CPG2S
