仪器简介：

HCX09A薄膜热物性测试仪

该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。

技术参数：

HCX09A薄膜热物性测试仪

该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。

主要技术参数：

1．导热系数范围：0.05～20w/m•k

2．仪器实现数字化测温，精度优于0.2级。

3．测量结果，准确度 ±3%

4．计量加热功率可调节±1%。

5.样尺寸要求：圆柱体￠15--30*5--30mm .

6.温度和保护气氛按用户要求定制。

7.配接计算机实现全自动测试分析。