拉曼-扫描电镜联用系统使您能够在单一系统内全面地原位表征样品性能。雷尼绍结构与化学成分分析仪（SCA）接口使扫描电镜（SEM）具有了inVia的拉曼分析能力。

inVia和SCA接口提供了一种SEM内的分析技术，既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱，又克服了X射线能量散射谱（EDS）作为传统SEM内的分析技术的局限性。采用雷尼绍SEM-拉曼联用系统，您将受益于定位共同点的形貌、元素、化学、物理和电子分析。

联用系统优势：

1. 原位测量。无需在不同仪器之间移动样品，节约时间，保证正确的分析区域。

2. inVia和SEM可同时作为独立系统使用，而不会影响两者的任何性能。

3. 得到丰富的样品信息。使用SEM记录样品的高分辨图像，并进行元素分析。增加拉曼分析样品化学信息的能力，以识别材料和非金属化合物。

4. 还可进行光致发光（PL）和阴极射线发光（CL）光谱测试。

选择**的系统：

雷尼绍SCA接口具有非常高的普适性，可以配备到您现有的SEM上，基本不需要对SEM进行改装。SCA可以安装到所有主要供应商提供的SEM上，包括：

• Zeiss

• FEI

• TESCAN

• JEOL

• Hitachi