粉体行业在线展览
TOMOS-50R1
1万元以下
TOMOS-50R1
182
9mm×7mm 广视野,200 万像素双相机,XY±10mm 移动范围
超广视野双面成像:9mm×7mm 大视野,可完整拍摄电容器、镜头等全尺寸样品,突破传统显微镜视野局限。
环形 + 同轴双光融合:环形照明适配表面瑕疵,同轴光适配深层特征,多模式照明全面覆盖各类检测需求。
双面同步自动采集:双相机、双光路同步拍摄,软件自动光轴补偿,实现一键双面成像与测量。
工业级定制扩展:支持软件功能(测量算法、输出格式)与样品夹定制,适配客户专属检测需求。
高精度自动化测量:内置双面图像合成与自动边缘检测功能,实现无人化高精度检测。
日本 FLOVEL TOMOS-50R1 广视野环形照明双面显微镜系统,是针对电子元器件、光学器件检测升级的高精度双面成像设备,创新融合环形照明与同轴光技术,实现约 9mm×7mm 的超大视野拍摄,可一次性完整捕捉电容器、电阻器、LED 芯片、镜头等大型 / 异形样品的正反面全貌,**解决传统显微镜视野局限、双面检测需拆装的痛点。
设备搭载双 200 万像素 Color/Mono 相机,双 0.5 倍镜筒设计,通过正立 / 倒立光路同步捕捉样品正反两面;配备环形照明 + 同轴聚光灯双光源系统,可灵活切换照明方式,清晰呈现样品表面缺陷、纹理与深层特征;粗微动调节行程** 30mm,XY 轴 ±10mm 移动范围,适配不同尺寸样品的高精度定位。
软件层面内置表裏光轴补偿、镜头倍率补偿、图像锐化、双面图像合成等功能,支持 Windows 11 Pro 操作系统,可实现双面自动拍摄、自动测量与数据记录。机身支持软件与样品夹定制,可根据客户工件形状与材料定制适配夹具与测量算法,广泛应用于电容器、电阻器、LED 芯片、透镜、印刷电路板、光通信部件等的双面外观缺陷、位置偏移、尺寸测量,是电子与光学器件质量管控的高精度检测解决方案。