电子器件高低温冲击试验箱是一样的意思，针对的是同一类同一标准的试验箱，此类试验箱是提供给电子器件在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在*短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱不仅适合电子器件使用，还是光电、金属、塑料、LED、橡胶、电子等工业材料行业必备的试验设备，结构分为两箱式和三箱式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008试验B、GB/T2423.1-2008试验A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。