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上转换荧光寿命测试模块

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产品介绍

EzTime-PL 同步可调制半导体激光器

-------上转换荧光寿命测试仪

◆ 替代OPO,提供大功率,宽波长范围激发波长选择;

波长选择范围:405nm-2200nm;

可实现连续输出和脉冲输出模式;

输出脉宽独立可调;

闪烁频率独立可调;

幅值功率独立可调;

☆ 上转换荧光光谱激发;

上转换荧光寿命激发;

微弱样品微秒寿命激发;

防伪及刑侦光源;

荧光标记筛选;

单态氧发光光谱及寿命;

脉宽—-颜色受控样品表征;

应用一:上转换荧光光谱及寿命,980nm 激光器激发;

应用二:单态氧发光光谱动态及寿命,405nm 激光器激发;

可以匹配已有市场的大部分型号荧光谱仪:

配合 HORIBA 荧光寿命测试系统,EDI FLS系列荧光寿命测试系统;

TCPSC 系统中的 MCS 测试模式或磷光测试模式,获得荧光衰减曲线、时间分辨发射谱TRES和延迟荧光光谱;

控制器部分

1. 荧光寿命测试范围: 1us -10s ;

2. 受控输出信号闪烁频率(0.01 -1kHz),可以实现的完全受控同步;

3. 主动信号输出:0.1Hz-100kHz;带同步输出端口;

4. 独立输出信号脉宽调整 :25ns -500ms 无级可调;

5. 电信号 拖尾小于1ns(外接 50 Ω电阻) ;

激光器部分

6. 半导体 激光器,额定功率2W,功率可调输出,1 -5W 可选

7. 激光器 连续输出稳定性,< 2%,依赖于不同激发波长;

8. 激光器 可选开放式平行光输出或线端口;

可选波长:375-2200nm(请咨询 销售工程师更新列表)

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