粉体行业在线展览
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仪器简介
在许多工业生产加工过程中,对残余奥氏体含量的控制非常严格,精确测量其含量,对于钢铁热处理过程中产品特性和质量的控制有重大意义。因为化学蚀刻和传统金相研究存在灵敏度和准确度较低的情况,所以无法做到工业生产中对残余奥氏体的精确测量,而X射线衍射法可以测量低至0.5%的残余奥氏体含量,故ASTM颁布E975标准方法:X射线法测量近无规结晶取向钢中残余奥氏体的含量,AreX D 正是根据此标准设计开发。
主要特点
■ 结构紧凑,节省实验室空间,风冷式X射线管;
■ 采用稳定的微聚焦50瓦Mo靶射线管,Zr滤光片;
■ 配备高像素USB摄像头,样品定位方便、准确;
■ 具有用于X射线安全保护的连锁装置;
■ 可测奥氏体220/311、铁素体200/211的衍射峰值强度;
■ 多衍射峰测量方式能够减少晶体优化取向带来的影响;
■ 软件界面设计简洁友好,操作简便;
■ 快速测量,测量时间小于3 分钟。
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能谱仪
ARL X'TRA Companion X射线衍射仪
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M