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X射线残余应力分析仪

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产品介绍

X射线残余应力分析仪

主要技术参数:

采用瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快,线性好

★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。

定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。

仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。

★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪

★2θ扫描范围:120°~170°;

2θ扫描***小步距:0.01°

2θ扫描每步计数时间:0.1S~20S

ψ角范围:0°~ 65°

ψ角摆动角度:0°~±6°

X射线管电压:15~30kV,连续可调

X射线管电流:3~10mA,连续可调

X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。

衍射几何:聚焦法

准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。

测角仪重量:10 kg

简装置总重量:45 kg

供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz

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