XRF9能量色散X射线荧光分析仪

nXRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。

nXRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。

（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。

产品特点

n先进的多光束可调系统

n具有高分辨率的探测器

n采用XYZ三维样品台

n大型样品分析室

nCCD摄像及自动定位系统

n自动调节双层六通道滤光系统

n完善的辐射安全防护

n强大功能的软件操作系统

n短时间多元素同时分析

n无损分析和先进的薄样分析技术相组合

n多种定量分析方法

n无需液氮和水循环冷却

n种类齐全的选配标准样品

nRoHS/WEEE指令快速分析

仪器配置

n外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3

n样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3

n主机质量：约45Kg

n工作环境温度：0~40oC

n工作环境相对湿度：≤80%

n元素分析范围：AI-U

n含量分析范围：1ppm~99.99%

n重复性：＜5%

n测量时间：一般60~300s

n测量对象：块状物体、粉末、液体

n激发功率：50W

n探测器分辨率：149gev

n输入电源：AC110V/220V

n高压电源：0~50kv/0~1mA

nX射线辐射剂量：≤1μSv/h

代表性元素120s*低检出限LOD(mg/kg)

性能指标