粉体行业在线展览

产品

产品>

分析仪器设备>

测厚仪

>荧光测厚仪

赛默飞世尔科技（中国）有限公司集团展位
产品
荧光测厚仪

直接联系

赛默飞世尔科技（中国）有限公司集团展位

美国

产品规格型号
参考报价：

面议

关注度：

634

产品介绍

仪器简介：

MicronX型荧光测厚仪是一种专门应用于半导体材料和电子器件领域的检测设备。

检测区域为50m~500um. 通过CCD 可放大图像达300倍。通过高精密度样品台可提供元素面分布图。

可对多达7层的涂层或镀层进行逐层厚度测量。

获取更多信息，请访赛默飞世尔科技（中国）有限公司集团展位 网站

产品咨询

荧光测厚仪

赛默飞世尔科技（中国）有限公司集团展位

请填写您的姓名：*

请填写您的电话：*

请填写您的邮箱：*

请填写您的单位/公司名称：*

请提出您的问题：*

您需要的服务：

发送

中国粉体网保护您的隐私权：请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站，表明您接受 我们的使用条款

荧光测厚仪 - 634
赛默飞世尔科技（中国）有限公司集团展位 的其他产品

FLOW

测厚仪
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2024 版权所有 - 京ICP证050428号