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质构仪探头-食品专用探头TA/MPT多样的豌豆测试装置

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TA/MPT多样的豌豆测试装置

该装置由环绕锥体的18个锯齿状缺口组成，样品可自动滚入缺口进入测试位置。穿透实验可穿透整个豆粒，并对刺破强度和穿刺力进行测量还可以用于测量其它豆类及糖果样品。该装配用于大豆等颗粒状的样品，可获得硬度、破裂强度等参数。

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