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QDAFM是一台基于NV色心和AFM扫描成像技术的量子精密测量仪器。通过对钻石中氮—空位（NV）色心发光缺陷的自旋进行量子操控与读出，可实现磁学性质的定量无损成像，具有纳米级的高空间分辨以及单个自旋的
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3000 | 合肥 | 给我留言 |
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显微计数法不溶性微粒检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。随着光阻法收录入药典作为不溶性微粒检查的一个方法以来，由于
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5467 | 中国大陆 | 给我留言 |
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不溶性微粒显微计数法检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。随着光阻法收录入药典作为不溶性微粒检查的一个方法以来，由于
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4107 | 中国大陆 | 给我留言 |
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显微镜不溶性微粒检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。随着光阻法收录入药典作为不溶性微粒检查的一个方法以来，由于其操
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3370 | 中国大陆 | 给我留言 |
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显微镜计数法检查不溶性微粒检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。随着光阻法收录入药典作为不溶性微粒检查的一个方法以来
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2544 | 中国大陆 | 给我留言 |
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显微镜计数法不溶性微粒检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。随着光阻法收录入药典作为不溶性微粒检查的一个方法以来，由
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2592 | 中国大陆 | 给我留言 |
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显微镜不溶性微粒分析仪检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。随着光阻法收录入药典作为不溶性微粒检查的一个方法以来，由
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3453 | 中国大陆 | 给我留言 |
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显微计数法不溶性微粒检测检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。随着光阻法收录入药典作为不溶性微粒检查的一个方法以来，
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2375 | 中国大陆 | 给我留言 |
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胤煌科技显微计数法检查不溶性微粒检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。常规显微镜不溶性检查的缺陷常规显微镜不溶性微粒
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3442 | 中国大陆 | 给我留言 |
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不溶性微粒显微镜计数系统检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。常规显微镜不溶性检查的缺陷常规显微镜不溶性微粒检查大家
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2335 | 中国大陆 | 给我留言 |
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显微计数法不溶性微粒计数系统检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。随着药学的发展，尤其是制剂学的飞速进步，各式新的剂
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2132 | 中国大陆 | 给我留言 |
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显微不溶性微粒计数系统检测介绍药典规定：按照中国药典0903章节的要求，不溶性微粒的检测有两个方法，光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。常规显微镜不溶性检查的缺陷常规显微镜不溶性微粒检查大家会
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1447 | 中国大陆 | 给我留言 |
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特点头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度**反射率（多层膜厚度，光学常数）1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统（紫外至近红外）区域传感器的安全机制易于分析向导，初学者也能够进行
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5764 | 江苏 | 给我留言 |
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为超高速、超高分辨率成像而生在成像速度和分辨率之间取得良好平衡CypherAFM特色:简单而稳定得到高分辨成像CypherVRS1250让视频级成像达到每秒45帧图稳定成像，只需专注于样品Cypher
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2457 | 英国 | 给我留言 |
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upiterXR是一款适合大样品的原子力显微镜。通过它，用户可以实现在一台扫描仪上进行高速成像和大范围扫描。Jupiter原子力显微镜可用于200mm样品的全面扫描，提供更高的分辨率、更快的测量速度、
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1266 | 英国 | 给我留言 |
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极高性能电化学原子力显微镜（EC-AFM）实时研究电化学反应—CypherES原子力显微镜如今支持电化学功能牛津仪器AsylumResearchCypherES电化学单元是用原子力显微镜原位研究电化学
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2091 | 英国 | 给我留言 |
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CypherVRSAFM是AsylumResearch一款新的全功能视频级AFM。该款AsylumResearchCypherAFM包含了多种分辨率范围，并具有多功能，易操作等优点，使科研人员终于能够
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1779 | 英国 | 给我留言 |
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ParkNX-HybridWLI全自动工业WLI-AFM系统ParkNXHybridWLI是有史以来**款具有内置WLI轮廓仪的AFM，用于半导体和相关制造质量保证。例如半导体前端、后端到高级封装的过
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851 | 韩国 | 给我留言 |
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SimplythebestAFMforautomaticdefectreviewandsurfaceroughnessmeasurement对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时
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1704 | 韩国 | 给我留言 |
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IncreaseyourproductivitywithourpowerfullyversatileatomicforcemicroscopeParkXE15具有众多的独特功能，是处理多种样品的共享实
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952 | 韩国 | 给我留言 |
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