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场发射扫描电子显微镜(FESEM)是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率,能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理,在镀膜或不镀膜的基础上,低电压下
 
222 江苏 给我留言
原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来
 
218 江苏 给我留言
inVia配备488nm激光器,可一次连续扫描大范围的拉曼光谱,无需接谱。具有共聚焦和Mapping的功能:可对样品点、线、面进行逐点扫描,并可以对微小样品(小于2微米)的微区结构、成分、面貌进行分析
 
257 江苏 给我留言
仪器种类:原子力显微镜样品台移动范围:80um*80um*80um样品尺寸:6mm定位检测噪声:0.2nm价格区间:250万-300万产地类别:进口仪器仪器简介:我们的创新NANONICSIMAGIN
 
299 给我留言
仪器种类:原子力显微镜样品台移动范围:XYZ80um*80um*80um样品尺寸:直径《6mm定位检测噪声:Z=0.2nm价格区间:150万-200万产地类别:进口仪器
 
302 给我留言
仪器简介:NANONICSIMAGINGLTD.(以色列NANONICS有限公司)是业界将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)相技术相结合的领头羊。公司成立于1997年,NANONI
 
269 给我留言
仪器种类:原子力显微镜样品台移动范围:170um*170um样品尺寸:直径<100mm;厚度<15mm定位检测噪声:XY<20nm;Z<0.3nm价格区间:200万-250万产
 
272 给我留言
仪器简介:NANONICSIMAGINGLTD.(以色列NANONICS有限公司)是业界将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)相技术相结合的领头羊。公司成立于1997年,NANONI
 
293 给我留言
进行NSOM实验,必须将点光源靠到样品表面纳米距离,然后点光源扫描样品表面,再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针,从亚光波长孔径的
 
284 给我留言
Nanonics多探针平台在纳米材料表征和加工应用中的独特性石墨烯的发现开启了新一代材料的进化史.这引领了低维度纳米材料和混合材料的多样发展.这些材料的发现也导致了对研究平台的反思,新的平台必须适应这
 
298 给我留言
仪器种类:原子力显微镜样品台移动范围:XYZ>80um样品尺寸:6mm定位检测噪声:0.2nm价格区间:100万-150万产地类别:进口仪器Nanonics公司历史:NanonicsImagin
 
336 给我留言
JB04布鲁斯特(Brewster)角显微镜布鲁斯特(Brewster)角显微镜主要用于观察气液界面上的有机分单分子膜。它具有出色的图像质量和分辨率,是一种用于在线控制和观察形态膜参数(例如:均一性、
 
504 给我留言
显微光学影像系统JZ95MS我公司光学显微系统系列,主要用于观察细小物体的形状,测量细小物体的大小,由于配备了各种可变长焦距的镜头,可以观察并记录细小物体的变化情况,放大倍数可达准纳米级,比如结晶过程
 
486 给我留言
类型金相显微镜品牌上海精科型号53X-C目镜放大倍数10X/Φ18  12.5X/Φ15物镜放大倍数4X10X40X仪器放大倍数40X-500X重量4000(g)适用范围广泛装箱数/加工定制否规格5X
 
1226 给我留言
参考报价:面议型号:AFM5500M品牌:日立产地:日本样本:【暂无】信息完整度:典型用户:0仪器种类:原子力显微镜样品台移动范围:100mm*100mm样品尺寸:直径≤100mm,厚度≤20mm定位
 
2660 日本 给我留言
参考报价:面议型号:AFM5100N品牌:日立产地:日本样本:【暂无】信息完整度:典型用户:0仪器种类:原子力显微镜样品台移动范围:150mm*150mm样品尺寸:直径≤35mm,厚度≤10mm定位检
 
2493 日本 给我留言
参考报价:面议型号:AFM5300E品牌:日立产地:日本样本:【暂无】信息完整度:典型用户:0仪器种类:原子力显微镜样品台移动范围:150mm*150mm样品尺寸:直径≤25mm,厚度≤10mm定位检
 
2021 日本 给我留言
产品特点l适合各种纳米材料及薄膜的表面粗糙度或表面形貌测量。l无需抽真空,可快速得到测量结果l直观的操作界面l一键扫描的快速功能产品概述可应用于高解析影像和测量需求,特别是具备次纳米级的Z轴分辨率。其
 
6229 台湾 给我留言
产品特点l适合各种纳米材料及薄膜的表面粗糙度或表面形貌测量。l无需抽真空,可快速得到测量结果l直观的操作界面l一键扫描的快速功能产品概述可应用于高解析影像和测量需求,特别是具备次纳米级的Z轴分辨率。其
 
7188 台湾 给我留言
产品特点l适合各种纳米材料及薄膜的表面粗糙度或表面形貌测量。l无需抽真空,可快速得到测量结果l直观的操作界面l一键扫描的快速功能产品概述可应用于高解析影像和测量需求,特别是具备次纳米级的Z轴分辨率。其
 
3706 台湾 给我留言
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