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JW-BK222
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北京精微高博科学技术有限公司.
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JW-BK222
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JW-BK222基础型
比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK基础型系列全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题，根据测试功能不同可区分为JW-BK112、JW-BK122W、JW-BK222三种型号，其中，JW-BK122W型因配置有小量程10torr压力传感器，配合二级吸附泵技术，可有效分析0.7nm以上微孔材料的孔径分布需求。 低温条件下（液氮或液氩等），在密闭的真空系统中，改变吸附质气体压力，通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值，进而计算出气体吸附量，描绘出等温吸脱附曲线，应用各种物理分析模型进行比表面积及孔隙度分析
Specification
性能参数
| 型号 | JW-BK112 | JW-BK222 | JW-BK122W |
|---|---|---|---|
| 测试原理 | 静态容量法气体吸附 | ||
| 吸附质气体 | N2、Ar、Kr、H2、O2、CO2、CO、NH3、CH4等非腐蚀性气体 | ||
| 分析口 | 2个,交替测试 | 2个,并列同时测试 | 2个,交替测试 |
| 比表面积范围 | 0.0005m2/g至未知上限； 标准样品重复性（相对标准偏差）≤± 1.0%; | 0.0005m2/g至未知上限； 相对标准偏差 ≤± 1.0%; | 0.0005m2/g至未知上限； 相对标准偏差 ≤± 1.0%; |
| 孔径范围 | 0.35nm-500nm； 大于2nm介孔大孔精确分析； 中值孔径重复性（标准偏差）≤0.2nm; | 0.35nm-500nm; 大于2nm介孔大孔精确分析； 大于2nm介孔大孔精确分析； 中值孔径重复性（标准偏差）≤0.02nm; | 0.35nm-500nm; 0.7nm-2nm微孔精确分析； 中值孔径重复性（标准偏差）≤0.02nm; |
| *小孔体积 | 0.0001cm3/g | ||
| 压力传感器（分析站） | 1000torr | 1000torr 2只 | 1000torr、10torr |
| 相对压力P/P0范围 | 10-4-0.998 | 10-4-0.998 | 10-5-0.998 |
| 脱气站 | 标配同位2站，可同时进行2个样品的真空加热脱气 | ||
| 脱气温度 | 室温—400℃，精度1℃ | ||
| 真空泵 | 双级旋片式机械真空泵，极限真空7*10-2Pa | 双级旋片式机械真空泵，极限真空7*10-2Pa +二级吸附泵技术 | 前置机械真空泵（极限真空7*10-2Pa）+ 二级吸附泵技术，测试系统真空度可提高1-2个数量级 |
| 主机规格 | 长740mm×宽500mm×高940mm，重量约70 Kg -80 Kg | ||
| 环境温度要求 | 室温，建议配备空调 | ||
| 环境湿度要求 | 10%-90% | ||
| 电源要求 | 交流220V±20V，50/60HZ，**功率300W，电流5A ； | ||
| 推荐应用领域 | 炭黑、白炭黑，碳酸钙，钛白粉，氧化铝、氧化锌、碳化硅等陶瓷原材料等。 | 活性碳材料、分子筛、催化剂、活性金属氧化物、MOF材料等。 | |
