粒度测量仪是一台稳定高速、以及高分辨的纳米粒度分析仪。该仪器适合测量 0.005 um 到 75um 范围的粒度。仪器使用高速离心圆盘将颗粒在液体介质里分离开。颗粒在的沉降稳定过程是由于液体介质中颗粒的密度梯度形成的。有别于传统方法，通过差示离心沉降原理为颗粒的精细区分提供新的解决方案。同激光散射和颗粒计数法等方法比较，该方法有非常高的分辨率。

粒度测量仪，有别于传统方法，通过差示离心沉降原理为颗粒的精细区分提供新的解决方案
 

　　这种原理有以下几点优势：
 

　　分辨率高：
 

　　同激光散射和颗粒计数法等方法比较，该方法有非常高的分辨率。对于只有 1%的颗粒差异分布的时候，该方法测定的结果仍然有好的分离效果。您能看到的是颗粒分布本身，而不是分布颗粒的混合图。
 

　　灵敏度高：
 

　　低至 10-8 g 的样品就可以满足日常分析需要。
 

　　重复性高：
 

　　样品结果在95%的典型置信度下，连续重复分析峰的重复性小 于+/-1% 或更好。
 

　　快速、高精度数模(A/D)转换:
 

　　可用信号分辨率(即软件操作的对象)决定于  数模转换的过程。CPS系统使用的数模  转换  可以实现在每秒31次取样时保持20位以上的精  度，几百万分之一的误差。
 

　　CPS高精度纳米粒度仪的技术优势
 

　　CPS纳米粒度分析仪?分辨率很高，它有效地结合了高速离心沉降(ZG24000转/分)和激光法的优点，使得整个仪器能够达到极高的分辨率，优良的灵敏度和重复性.
 

　　同激光散射和颗粒计数法比较，该方法有非常高的分辨率，能够轻松鉴别杂质颗粒，污染颗粒或者外来颗粒。半峰宽为峰值粒度 1%，也就是说对于峰值差异只有1%的相邻粒度两个粒度峰，该仪器都可以有效地检测并区分开来。仪器的分辨率如此高，得到的颗粒分布几乎不受仪器的影响，测量终得到的是真实、可靠的颗粒分布。
 

　　极高的灵敏度, 低于10-8 g 活性样品可以得到，少可以分析小于毫克乃至微克级的样品。
 

　　高度可重复性的样品结果; 连续重复分析峰的重复性小于±1% 或更好。
 

　　连续的离心操作；在分析连续样品的时候，不需要仪器停止来清洗，需要极少的人工。
 

　　和传统沉降法比较，更快的分析时间。速度的优势是基于更快的圆盘转速以及更快的仪器检测器响应。采用多阶速度，分析速度可以小于通常情况下的1/20。