Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪**结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术彻底解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是目前市场上功能***的一款仪器。

作为*先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了**结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，zui高可达40 %wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，彻底解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能zui强大的粒度与Zeta电位分析仪。

Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪典型应用

1.蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束

2.脂质体、外切酶体及其他生物胶体

3.多糖、药物制备

4.纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液

5.油包水、水包油体系

6.涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂

7.食品、化妆品配方

8.陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑

Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪应用案例

  不同粒径对Zeta电位等电点的影响          不同官能团配比对等电点的影响          Zeta电位值与细胞吸收度的关系

通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。（数据摘自JACS）

Omni多角度粒度及高灵敏度Zeta电位分析仪技术参数

1.粒度测量范围：0.3nm～10μm

2.Zeta电位测量适用粒度范围：1nm～100μm

3.样品浓度范围：0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)

4.典型精度：1％

5.样品类型：蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品

6.样品体积：1～3ml

7.分子量测定范围：342～2×10⁷Dalton

8.电导率范围：0～30S/m

9.电泳迁移率范围：10^-11 ～ 10^-7 m² /V.s

10.电场强度：0 ～ 60 kV/m

11.电极：**性开放式电极，电极材料纯钯；耐腐蚀电极（选件）；微量电极（选件）

12.温控范围与精度：-5℃～110℃，±0.1℃。

13.pH测量范围：1-14

14.激光源：40mW光泵半导体激光器（可选5mW He-Ne激光器）

15.检测器：高灵敏雪崩型二极管（APD）

16.相关器：4×522个物理通道，4×10¹¹个线性通道，采用动态采样时间及动态延迟时间分配

17.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数

18.散射角：15°、90°与173°

19.室温操作情况：10°C ～ 75°C，湿度 0% ～95%, 无冷凝

20.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg

21.电源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

22.计算机（选件）：商用计算机，包括Window^TM软件

23.自动滴定仪（选件）：独立四泵驱动，可对pH值、电导率和添加剂浓度作图