粉体行业在线展览
V-Sorb 4800P
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国仪精测
V-Sorb 4800P
17013
0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积)
F-Sorb X400系列4站比表面积测试及介孔径分布孔容孔隙率测量仪是目前国内同类产品中唯一完全自动化,智能化的产品,连续3年国内市场销量第一,众多著名科研院所及500强企业应用案例. V-Sorb 2800 Series系列全自动智能比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪是金埃谱科技自主研发的比表面积及孔径检测仪器,采用静态容量法测量原理.相比国内同类产品,多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,测试结果的准确性和一致性进一步提高,测试过程的稳定性更强,达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品.
金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,唯一通过ISO9001质量认证的生产企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
北京金埃谱科技是北京市高新技术企业,位于我国著名的高校云集,中科院研究院所汇聚的北京高新技术产业区-中关村.公司起源和服务于中国兵器系统行业,依托当地人才资源和兵器系统技术优势,致力于科学分析仪器的研发,生产及销售.以创立兵器和民用行业国有知名品牌为发展宗旨,通过与兵器系统密切合作,同时借鉴国外先进技术,研发具有自主知识产权的自动化及智能化检测仪器,为我国科研单位及生产企业提供与国际产品接轨,高可靠性,高性价比的一流科研设备.目前主要产品有V-Sorb 2800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪,F-Sorb X400系列4站BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪.
秉承兵器行业高标准,严要求的技术宗旨,并适应新形势下市场发展需求,倡导和坚持"技术为先,服务为本"的发展理念,我们为客户不仅仅提供高质量的产品,同时更注重高效的服务.公司拥有深谙业内需求,了解国际先进技术的研发团队及跨行业技术咨询专家,为研发具有国际先进水平产品提供强大的技术支持.目前已建立起严格的产品质量保证和完善的售后服务体系,确保产品符合国际标准,服务更具本地特色,使V-Sorb 2800 Series系列全自动智能BET法比表面积测定微孔结构分布总孔体积孔隙度分析仪和F-Sorb X400系列4站BET比表面积测试及BJH介孔径分布孔容孔隙率测量仪.两大系列产品品牌和公司信誉得到了客户的高度认可和普遍赞誉,在同行业中处于领先地位.
全自动智能比表面积仪及中孔微孔分布测试仪,BET法比表面仪,比表面积测试仪,氮吸附比表面积测定仪,比表面检测仪,比表面测量仪,比表面积检测仪,介孔微孔分布测定仪,比表面积测量仪,BET比表面积分析仪,比表面测定仪,比表面测试仪,BET比表面分析仪,孔容积测定仪,孔径分析仪,孔径检测仪,孔径测量仪,孔径分布测定仪,孔隙度分析仪,介孔微孔分布分析仪,孔容积分析仪,孔径分布检测仪,孔径分布测量仪,孔隙率测定仪,孔隙率检测仪,孔隙率测量仪,孔容测试仪,孔结构分析仪,孔径测定仪,孔隙度检测仪,孔隙度测量仪,平均孔径测试仪,介孔微孔分布测量仪,孔结构检测仪,孔结构测量仪,总孔体积分析仪,孔容积测试仪,孔体积分析仪,孔体积检测仪,孔体积测量仪,平均孔径测定仪,孔隙率分析仪,孔径测试仪,孔径分布测试仪,孔容检测仪,孔容测量仪,总孔体积测定仪,介孔微孔分布检测仪,孔体积测试仪,平均孔径分析仪,总孔体积检测仪,总孔体积测量仪,孔隙度测定仪,孔径分布分析仪,平均孔径检测仪,平均孔径测量仪,孔结构测定仪,总孔体积测试仪,孔隙率测试仪,孔结构测试仪,孔容分析仪,孔体积测定仪,孔隙度测试仪,孔容测定仪等是粉体和颗粒材料的比表面积及孔径(孔隙度)分布的检测分析仪器,适用于吸附剂(如活性碳,硅胶,活性氧化铝,分子筛,活性炭,硅酸钙,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化铝,氧化锆,硅酸盐,氮化铝,二氧化硅,氧化钇,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料补强剂(如炭黑,白碳黑,纳米碳酸钙,碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸锂,石墨,镍钴酸锂,氧化钴,磷酸铁锂,钛酸锂,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物电池材料,碱锰材料,锂离子材料,锂锰材料,碱性材料,锌锰材料,石英粉,镁锰材料,碳性材料,锌空材料,锌汞材料,乙炔黑,镍氢材料,镍镉材料,隔膜,活性物资,添加剂,导电剂,缓蚀剂,锰粉,电解二氧化锰,石墨粉,氢氧化亚镍,泡沫镍,改性石墨材料,正极活性物质,负极活性物质,锌粉等);金属氧化物(如氧化锌,氧化钙,氧化钠,氧化镁,氧化钡,氧化铁,氧化铜等);磁性粉末材料(如四氧化三铁,铁氧体,氧化亚铁等);纳米金属材料(如纳米银粉,铁粉,铜粉,钨粉,镍粉,铝粉,钴粉等);环保行业(如颜填料,柱填料,无机颜料,碳酸钙,氧化硅,矿物粉,沉积物,悬浮物等);无机粉体材料(如氧化钛,钛白粉,二氧化钛等);纳米材料(如纳米粉体材料,纳米陶瓷材料等);稀土,煤炭(粉煤灰),水泥(矿渣粉),储能材料,催化剂(硅藻土),净化剂,助滤剂,土壤,黏土,石油断裂剂,发光稀土粉末材料(荧光粉),粉体材料,粉末材料,超细纤维,多孔织物,复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分析,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.
电池材料厂,炭黑厂,科研院所,粉体材料企业,高等院校,超细粉体材料厂,催化剂材料厂,陶瓷结构材料厂,稀土催化物厂,金属氧化物厂,磁性材料厂,吸附剂厂,添加剂厂,储能材料厂
电池材料厂,炭黑厂,科研院所,粉体材料企业,高等院校,超细粉体材料厂,催化剂材料厂,陶瓷结构材料厂,稀土催化物厂,金属氧化物厂,磁性材料厂,吸附剂厂,添加剂厂,储能材料厂
全自动比表面积及孔径分析仪
V-Sorb 4800P
比表面积测试,范围 0.0005(m2/g)--至无上限
孔径分析:0.35 nm-2 nm( 微孔),微孔总孔体积测定;2 nm-500 nm( 中孔或大孔)
4分析站,交替测试4个样品
配置双级真空泵
产品概述
技术参数
测试原理:静态容量法;
测试功能:吸附及脱附等温线测定,BJH(Barett-Joyner-Halenda)总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,DR(Dubinin-Radushkevich)及DA(Dubinin-Astakhov)填充理论,CO2冰水法微孔分析,BET(Brunauer-Emmett-Teller)法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t-plot图法外比表面积测定,HK法微孔分析,SF法微孔分析,MP法微孔分析,T图法微孔分析;
测试范围:比表面积 0.0005(m2/g)及以上;0.35 nm-2 nm,微孔总孔体积测定;2 nm-500 nm( 中孔或大孔), 0.0001 cc/g--至无上限(总孔体积)
测试精度:比表面积重复精度≤±1.0%;*可几孔径重复偏差≤0.02 nm,真密度≦±0.04%;外表面积≦±1.5%;
测试模式:“单一氮气”和“氮气+氦气”两种测试模式**结合,灵活切换,满足不同特性样品测试需求;
样品数量:交替测试4个样品以及同时进行4个样品脱气处理(选配样品处理机),样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命;
样品处理:样品处理的全过程通过软件来自动控制;常温~400 ℃;脱气口真空度可达0.5 Pa;
P0测试:支持P0测试;
分压范围:P/P0准确可控范围达5x10-6-0.998;
压力传感器:量程 0-3 Bar 2 支,量程 0-1 Torr 2 支,进口硅薄膜电容式压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%;
管路结构:集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;
真空泵:进口双级真空泵可以实现外置和内置仪器中二种放置方法,内置仪器中可以通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停,从而延长真空泵的寿命;
液氮杯:进口 4 升大容量不锈钢内胆杜瓦瓶,可连续进行72小时测试;
样品管材质:石英,与P0测试站实时测定采用同质材料,减少因材质不同而造成的分压误差;
液位控制:V-Sorb**的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;
数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;
全自动静态容量法活性氧化铝孔径分布分析比表面积测试仪性能参数
测试方法及功能:氮吸附真空容量法(真空静态法),吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径孔隙度测试,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t-plot图法外比表面积测定;
测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-500nm(孔径);
测量精度:重复性误差小于1.5%;
真空系统:V-Sorb**的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径孔隙度测试的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;
液位控制:V-Sorb**的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;
样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;
压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa);
压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%);
分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995;
极限真空:4x10-2Pa(3x10-4Torr);
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;
测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr);
数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;
数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.
JW-P系列
V-Sorb 4800P
MADlink 100
BSD-TD-K
POROLUX Cito系列
Apreo 2
HL2020-BT
GEST-123T
Porometer
BETA201A
HL2020-BT