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塞贝克系数/电阻分析系统 CTA-3S
郑重承诺:全球甄选知名供货商,保证系统品质达到**!
坚决不做低价、减配、低品质的经济版本和精简版等系统,维护国内用户的**利益!
热电材料测试系统CTA-3S系统是在CTA-3系统的基础上升级性能更加强大的硬件(数据采集、变压器、功率调控模块、温度调节器和电磁场屏蔽处理、温度控制方式等优化),提高了温度场控制精度和测量数据的准确性和重复性。
技术特点:
·可控温场下可同步测量赛贝克系数和电阻率
·标准配置进口高级商用吉时利(Keithley )数采仪表,避免电路板集成数据采集技术带来的干扰误差
Keithley技术:
100nV rms 噪音本底
直流电压灵敏度低至 10nV,基本精度为 0.002%(90天)
7ppm DCV 可重复性,基本 1 年 DCV 准确度:0.0028%
**读取速度范围:2k 读数/秒;
温度分辨率:0.001℃;
交流电压分辨率:0.1μV
电阻分辨率:1 μΩ
电流分辨率:1nA
低功耗欧姆测量模式
弱电流电路测试功能
偏置补偿欧姆功能
检定低压元件又快又准确
提高测量精度的置信度
以低至 100μA 的源电流测量低阻抗,**程度减少设备自发热
进行电阻测量时控制测试电压,避免击穿可能已形成的任何氧化物或膜
消除会在系统环境中进行低电平电阻测量时产生错误的热效应
提供更精确的低电阻测量
·标配进口高级商用电流源(ADCMT),非电路板集成恒流源,避免无法精准输出小电流而产生热效应和测不准
·恒流源参数:0.000-220mA;恒流设置分辨率:100nA;恒流稳定性:0.008+20nA/天
·温度范围:RT up to 1150℃
·光波炉加热技术,洁净加热不污染样品和无挥发性,对操作者安全健康;整体水路设计和镀金处理,无水垢堵塞问题,终身免维护·控温速率:0.01 –100K/min,可以节约用户测试时间
·配置垂直放样结构,上下样品支架夹持(三明治),精确控制温度差
·测量范围:赛贝克系数:0.5μV/K-25V/K;电阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm
· 0-80K温差范围可任意设置温差值及温差点的个数
· U-I曲线自动扫描,计算出合适的电流数值,可以精确测量电导率;不会对大电阻样品产生误差
·铂金大电极设计,和样品可充分接触,对于不均匀样品也可获得良好的导电测试
·热电偶间距可以根据样品尺寸调节后固定,满足不同科研要求
·精度:赛贝克系数:±7 %;电导系数:±10 %(热电材料测试,非康铜标样);
·重复性:3%
·高级应用程序控温技术,包括温差和测量步进等高级要求
·自由升/降温、可精确控制温度程序,进行升温、恒温与降温过程中的数据测量
·热电偶探针可选K、S、R型(无需铠装)配置,不会产生非常大的接触电阻
·自动压力安全保护设计,进口美国航天级硬件配置,确保测试过程中不会发生爆炸
·测量系统:柱状、片状、长方体、薄膜等系统
技术规格
温度范围 | RT up to 1150°C | |
控温速率 | 0.01 – 100k/min | |
控温精度 | +/-0.25K | |
测量方法 | 赛贝克系数:静态直流电 | 电阻系数:四端法 |
测量范围 | 赛贝克系数:0.5μV/K-25V/K | 电阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm |
分辨率 | 赛贝克系数:10nV/K | 电阻率:10nOhmm |
精度 | 赛贝克系数:± 7 % | 电导系数:± 10 % |
重复性 | 3% | |
电流 | 0 to 220 mA(可控精准≤0.005mA) 恒流设置分辨率:100nA 恒流稳定性:0.008+20nA/天 | |
数据采集 | 100nV rms 噪音本底 直流电压灵敏度低至 10nV,基本精度为 0.002%(90天) 7ppm DCV 可重复性,基本 1 年 DCV 准确度:0.0028% **读取速度范围:2k 读数/秒 温度分辨率:0.001℃; 交流电压分辨率:0.1μV 电阻分辨率:1 μΩ 电流分辨率:1nA | |
气氛 | He、氧化、还原、真空 | |
真空度 | 10E-3mbar | |
样品尺寸 | 直径或正方形:2 to 4 mm;长度:6 to 22mm |
应用
1、2018年5月18日,世界**期刊《Science》发表了北京航空航天大学赵老师等学者在热电材料硒化锡应用方面的重大研究成果:三维电子/二维声子实现高ZT。祝贺赵老师课题组和其它合作课题组!
文章内容链接:
2、2019年9月27日,《Science》杂志在线以全文Article的形式发表了北京航空航天大学材料科学与工程学院赵立东教授课题组在热电材料研究上取得的新进展:
《High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09 crystals》发现并利用硫化锡(SnS)的多个能带随着温度的演变规律,通过引入Se优化调控了有效质量和迁移率的矛盾,在储量丰富、成本低廉、环境友好的SnS晶体材料中实现了高的热电性能 (Science365 (2019) 1418-1424.)。
该工作通过温度梯度法合成出 SnS1-xSex 晶体结构,并实现三个分离电子能带之间相互作用的控制。Se 的引入实现电子传输(μ)和有效质量(m*)两大参数的同时优化。300 K 时,PF 值从 30 升至 50 mW cm?1 K?2; 873 K 时,ZT **值和均值分别为 1.6 和 1.25。这种控制策略为优化热电性能提供了一条不同的途径。开发高性能SnS晶体是向低成本、地球资源丰富和环境友好型热电技术迈进的重要一步。
文献链接:High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09crystals, 2019, Science, DOI:10.1126/science.aax5123.
以下附件不包含在CTA系统标准配置中,需要用户选配!
1、薄膜样品夹具CTA-tff
薄膜样品夹具CTA-tff由不锈钢材料精加工和人工手工琢磨打造,采用先进的分体式设计理念,可以对不同长度样品夹持,可适配不同热偶间距(4、6、8 mm);应用顺滑螺丝紧固的方法,可以对不同的样品紧固,由于采用了金属作为导体接触电极块,无需额外的金属片就可以良好接触电极导通。夹具可以匹配不同品牌的热电材料分析系统,方便国内用户的使用和更替。
技术参数
·夹具材质:不锈钢(其它贵金属可定制)
·夹持调节:分体式
·夹持方式:螺丝紧固
·样品厚度:≤1.80 mm (包含底衬)
·样品宽度:≥4.00 mm
·样品高度:依据探针热偶间距(4、6、8 mm)
2、视频测距系统 Vra
在测试热电材料的性能时,样品热偶间距的精确值对电导率测试的准确性非常重要;功率因子直接受电导率影响,进而影响热电优值。
随着热偶的使用过程中, 需要不停的打磨热偶的金属头, 热偶的金属头和样品的接触点会不停的变化, 眼睛无法精准分辨接触点的实际位置,如果用游标卡尺去测量这个间距,每个人会得出不同的数值,那么如何确保测量准确的, 采用视频法测距是目前*可靠的方法之一。
为此柯锐欧设计了视频测距系统(Vra),该系统由专业相机、镜头和视频软件、背景灯、支架、USB接口等组成, 可以自动快速、准确测量出样品热偶的间距,消除人眼测量误差和实际变化的固定距离带来的误差;配合CTA的高级软件, 可以自动输入测试实验参数栏,方便易用的设计,满足了CTA用户的需求。 同时该系统可以配置在其它品牌的热电测试系统上使用, 为国内的热电材料科研工作者提供服务!
MicroCal PEAQ-ITC
BSD-VTG
TGA THERMOSTEP
TGA系列
全自动熔点仪M5000
MST-I
FN315C热值仪 (防爆)
ZRP
QTM-700
C-Therm Trident
VSP2
JB-DSC-500B