粉体行业在线展览
面议
658
高温电阻测试仪 CRA-3
技术特点
·适用于研究开发各种材料和薄膜材料电阻系数
·高级应用程序控温技术,包括温差和测量步进等高级要求。
·自由升/降温、精确控制温度程序,进行升温、恒温与降温过程中的数据测量
·自动压力安全保护设计,确保测试过程中不会发生爆炸
·试样支架采用独特的接触式平衡机构,保证测量的高重现性
·可选原片状样品测量系统
·可选高级数据采集技术,避免电路板数据采集技术带来的干扰误差
全球甄选一流供货商,保证系统品质达到**!
CRA系统硬件组成:
美国吉时利 Keithley(数据采集系统)
德国 W.HALDENWANGER (高温陶瓷系统)
英国摩根Morgan(高温特种材料)
美国通用电气GE(光波加热元件)
瑞典康泰尔 Kanthal (加热元件)
美国精量电子 MEAS(传感器)
日本IKO (精密轴承)
日本住友Sumitomo (低温制冷机系统)
测试性结构图
圆柱形或棱形样品垂直放置在两电极之间,同时整个测量系统设置于一个加热炉内。加热炉加热样品到预定的温度,在此温度下,直流电四端法测量电阻,样品两端通入恒定电流,测量样品的电压变化,可以计算出电阻系数。
CRT技术参数
型号 | CRA-31 | CRA-32 |
测量范围 | 0.1 mohm-1 Kohm 0.1 mohm-10 Mohm (高电阻模块) | 0.1 mohm-10 Mohm 1 uohm-100 Mohm (高电阻模块) |
精度 | 5% | 2% |
测量方法 | 四端法 | |
分辨率 | 10 nOhm | |
温度范围 | -100°C up to 500°C ; RT up to 800°C / 1150°C | |
控温速率 | 0.01 – 100 K/min | |
控温精度 | +/-0.5K | |
电流 | 0 to 160 mA | |
气氛 | 减压He、氧化、还原、真空 | |
样品尺寸 | 直径或正方形:2 to 4 mm;长度:6 to 22 mm | |
圆片样品 | ? 10-12.7-25.4 mm | |
主机尺寸 | 106×54×1450px | |
功率 | 4800W(800℃);6000W(1150℃) | |
电源 | 220V 50Hz(单相) |