一、产品简介：宽广的温度范围，从 -100℃到 500℃

无须更换检测器或炉体， LFA467 HyperFlash在同一台仪器上可实现 -100℃ 到 500℃ 的宽广温度范围。加上目前市场上种类*丰富的可选配件，开创了热物性测量的新天地。

进样器附有 16 个样品位，样品容纳量为原来的 4 倍

LFA 467 HyperFlash 的一大优势是可以在整个温度范围内连续测量 16 个样品，大大缩短了测量时间。液氮补给系统可以实现对检测器与炉体的自动补充液氮，保证仪器全天候不间断测量。

ZoomOptics 得到的测量结果更准确，减少测量误差

**技术的 ZoomOptics 优化了检测器的检测范围，从而消除了孔径光阑的影响。显著增加了测量结果的精度。

极高的采样频率（2MHz），特别适合于薄膜样品

薄膜样品及高导热材料需要快速的数据采集速率，来精确地记录样品上表面的升温过程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的数据采集速率，这是 LFA 系统****的。

二、技术参数：

温度范围：-100℃ ... 500℃，单一炉体

氙灯，**能量 10 J/Pulse（功率可调）

非接触式测量，IR 检测器检测样品上表面升温过程

数据采集速率：高达 2MHz（包括半升温信号检测，及 pulse mapping 技术）-- 对于高导热及薄膜样品，采样时间（约为半升温时间 10 倍）可低至 1ms，样品厚度*薄可至 0.01 mm 以下（取决于具体的导热系数）

热扩散系数测量范围：0.01 mm2/s ... 1000 mm2/s

导热系数测量范围：< 0.1 W/(mK) ... 2000 W/(mK)

样品尺寸：

- 直径 6 mm ... 25.4 mm（包括方形样品）

- 厚度 0.01 mm ... 6 mm（样品的厚度要求取决于不同样品的导热性能）

16 个样品位的自动进样器

20 多种支架类型

Zoom Optics 优化检测器的检测范围（**技术）

**保护的 pulse mapping 技术（US 7038209， US 20040079886， DE 10242741 – approximation of the pulse），用于脉冲宽度修正，可以提高比热值的测量精度

气氛：惰性、氧化性、静态/动态、负压

ZoomOptics 使测量结果更准确，减小测量误差

LFA 的红外检测器是检测样品的上表面面积，通常是适应样品**尺寸 25.4mm。较小尺寸的样品则需要加遮光片来避免样品周边温升的影响。所有的物体都会发射红外光，甚至是遮罩材料，这样检测信号肯定会受到影响，影响的程度取决于样品与遮光片材料热扩散系数的差异，导致在升温曲线的后段，温度信号继续升高，或使温度信号下降趋势变缓。不管是哪种情况，得到的样品半升温时间会发生改变，*终得到的热扩散系数误差较大。

使用 ZoomOptics，检测器只检测样品部分的升温过程，避免了样品周边及遮光片的影响。预先设定的检测范围约为 70%。用户可根据具体样品的形状来进行调整。