光谱检测分析仪-OPTINO波前测试系统-光傲科技股份有限公司-产品详情

OPTINO波前测试系统

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产品介绍

Optino 波前探测系统

不仅仅是一个波前探测系统，

更是一个完整光学综合测试系统

不仅可以用于实验室光学测试，

也可以适用于生产环境条件

可测试的光学元件和系统

可测试评价的项目

主要型号及功能特点

产品系列	主要特点
Omi	基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理，基本型，价格优惠
Optino Uno	基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 原理，基本型增加一个固定的准直器，用于光源准直。具有所有光学分析所需的基本功能，包含光纤光源。 15 种针对不同测试需求的配置无隔行快速读出 1Kx1K 相机信号固定准直器（平行光管）基本的夏克-哈特曼Shack-Hartmann分析功能:Zernike多项式系数、波阵面、Strehl Ratio 等. 软件根据测到的像散、球差等提供调校指令根据软件的图形指示，依据参照标准或镜面的CCD像面，对光学元件的焦距进行实时斜率调整图像分析功能根据Shack-Hartmann 数据计算MTF、PSF、EE等数据（可选配置）仿真模拟功能（可选配置）
Optino Pro 专业版	具备Optino Uno 功能外，增加马达驱动的准直器（平行光管），以及先进的软件功能，具备高度自动化。准直器可自动寻找焦点，也可对光束进行分析。
Optino EE 工程版	具备Optino Pro 所有功能，具备更强大的软件功能，并经过优化，可以使用生产环境中使用，测试速度快。采用回馈环路控制，并以10Hz的采样频率进行光学质量测试。
Optino+ Beam profiler 光束分析	具备Optino Pro所有功能，另外加装第二个CCD，用于光斑形貌分析，光束失常及测量可同时在一台设备上实现。

干涉仪与波前探测系统比较

Optino 波前测试系统相对于干涉仪的优点

	干涉仪	Optino 波前系统
1	购买、运行、维护费用高	非常便宜
2	系统体积大，需要大型光学平台	结构紧凑，普通桌子就可以
3	需要昂贵的隔振平台	非常耐用，无需隔振，普通桌子就可以，即使重击桌子也不会影响测试结果或仪器性能
4	需要洁净室	普通干净的实验室环境足够了
5	需要控制测试现场的气流	可以在紧靠打磨机器工作现场使用
6	需要激光光源	普通光源或激光均可
7	由于激光波长范围有限，只能工作在有限的几个波长	任何波长均可工作，从193nm到1700nm，软件功能不受波长和配置的影响
8	仅限于测试平面、球面及浅度非球面测试	可以测试深度非球面元件（球形失常值达50λ）
9	不能测试非规则形状元件	可以测试非规则元件，如柱面镜
10	动态范围受CCD探测器上干涉条纹限制，	方法本身具有高动态特性

Optino Pro vs. Zygo GPI xp HR Interferometer:

通过使用Zygo GPI xp HR干涉仪和Spot-Optics公司的Optino 波前测试系统对一个硬盘上小面积(7mm)区域，进行测试对比。

右图白色圆圈位置的区域即为测试区域，是一个平整的表面，测试的波长为632nm，下图为主要测试得到的参数对比：


去除了倾斜(Tilt)， Piston and 散焦 (defocus)影响后的表面3D形貌图（ Zygo ）	去除了倾斜和散焦的3D表面形貌图(Optino)

由上可见:基于Shack-Hartmann 测试原理的Optino 可以获得与Zygo干涉仪一致的测试结果