粉体行业在线展览
TESCAN TIMA-X FEG(GM)
500万以上
TESCAN TIMA-X FEG(GM)
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应用范围很宽,包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。
二次电子图象分辨率 | 1.2nm @ 30keV | 放大倍数 | 1~1,000,000 x |
背散射电子图像分辨率 | 2.0nm @ 15keV | 加速电压 | 0.2~30 kV |
产地属性 | 欧洲 | 仪器种类 | 场发射 |
价格范围 | 500万-700万 |
TESCAN综合矿物分析仪(TIMA)是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜,适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。
TIMA的应用范围很宽,包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的独特技术是基于一个完全集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了****的数据采集速度,进而得到快速、准确和可靠的结果。
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描电子显微镜。MIRA镜筒的特殊设计(电子枪的恒真空与隔绝阀)提高了发射的稳定性和钨灯丝的使用寿命。该系统提供高真空模式为标准,低真空模式为选配。
大 样品室、由计算机控制的超快样品台、矿物样品支持器的特殊设计。样品台可以同时容纳7块直径**为30mm的样品。样品台内可放入直径25 mm至32 mm的样品。样品台有EDX/BSE校准标准、铂Faraday筒(BSE信号校准)与锰、 铜、 石英、碳和金元素(系统性能检查)。标准校准的元素可以根据客户要求定制。
配件:
二次电子探头
背散射电子探头
探针电流测量
压差式防碰撞报警装置
可观察样品室内部的红外线摄像头等,各种配件可供选择
VEGA 3 XMU/XMH
TESCAN TIMA-X FEG(GM)
MAIA3
MAIA3
RISE
VEGA3 InduSEM
GAIA3
VEGA 3 Easyprobe
VEGA3 Small Base
MIRA3
TESCAN S8000
场发射扫描电镜 SEM5000
Veritas
Quattro-
Pharos-STEM
INNO-SCAN 3D扫描仪
KYKY-EM8100
EM-30+
Transcend II
Hitachi FlexSEM 1000
略
美国Fauske 快速扫描绝热量热仪-ARSST
MIRA 3 GMU/GMH