FT-391系列手持式四探针方阻测试仪详情介绍

FT-391 Series handheld four-probe resistance tester

概述Overview：

参照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集高精密集成电路恒流源系统，提供便捷的操作模式，便携式外型结构，可充电式电源系统，超长待机，上下限设定.

功能介绍Function introduction：

便携式外型结构更加适用于车间生产、品管抽检，外出携带测量等要求快速便捷测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企业.

 FT-391系列手持式四探针方阻测试仪

技术参数Technical Parameters：

规格型号Specification model
 FT-391A
 FT-391B
 FT-391C
 
1.方块电阻范围sheet resistance  
 10～2.00×102Ω/□
 10～2.00×103Ω/□
 10～2.00×104Ω/□
 
2.电阻率范围resistivity
 1～2×103Ω-cm
 1～2×104Ω-cm
 1～2×105Ω-cm
 
3.分辨率resolution
 0.01Ω
 0.01Ω
 0.01Ω
 
4.显示读数display
 液晶显示：电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current.   voltage. probe shape. probe spacing. thickness.
 
5.测试方式test mode
 单电测量single electrical measurement
 
6.工作电源working power
 5V.1000mA  
 
7.   误差errors
 整机不确定性Machine uncertain≤4.5%（标准样片结果standard   samples）
 
8.选配choose to buy
  选配1.方形探头； 选配2.直线形探头；探针间距；选配3：探针间距1mm；2mm；3mm三种规格; 选配4：探针材质：碳化钨针;镀金磷铜半球形针square probe; 2. linear probe; 3.Optional   probe spacing: 1mm；2mm；3mm in   three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle.gilded copper hemispherical   needles.
 

FT-391系列手持式四探针方阻测试仪

适用范围Widely used：

1.覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，

3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，

4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，

详情描述：

1. 自动量程

2. 高准确稳定性.

3. 双电组合测试方法

4. 标准电阻校准仪器

5. PC软件运行

6. 同时显示电阻、电阻率、电导率数据.

7. 可显示5位数字.

8. 中、英文界面