粉体行业在线展览
MCP-S330
5-10万元
日东精工NITTOSEIKO
MCP-S330
19
不限
产品特点
全自动测量:测量、计算、数据处理和3D图形输出完全自动化,大大提高了测量效率和准确性。
大样品尺寸测量:样品尺寸可达300mm,可容纳多个样品,能够绘制最大300mm见方的样品并连续测量多个样品。
多种测量方式:可以通过三种方式进行测量位置设置:网格输入、直线输入和顺序输入。
宽测量范围:可连接到Loresta GX,测量范围为10⁻⁴至10⁷Ω。
比较器功能:在屏幕上标注范围外的测量结果的测定点。
粉末测量功能:要测量粉末的体积电阻率,只需将样品放入探头单元并将其放置在设备中即可。该装置施加给定的压力,同时测量粉末的电阻率和压制密度。
技术参数
测量范围:10⁻²至10⁶Ω。
样品尺寸:最大300mm见方。
功能与应用
应用领域广泛:适用于金属、金属薄膜、导电涂层、导电薄膜、片材等多种材料的电阻率测量。
膜厚和成分变化检测:导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。
电子元件和材料开发:可用于电子元件和材料的开发和质量控制。
全自动测量:测量、计算、数据处理和3D图形输出完全自动化,大大提高了测量效率和准确性。
大样品尺寸测量:样品尺寸可达300mm,可容纳多个样品,能够绘制**300mm见方的样品并连续测量多个样品。
多种测量方式:可以通过三种方式进行测量位置设置:网格输入、直线输入和顺序输入。
宽测量范围:可连接到Loresta GX,测量范围为10⁻⁴至10⁷Ω。
比较器功能:在屏幕上标注范围外的测量结果的测定点。
粉末测量功能:要测量粉末的体积电阻率,只需将样品放入探头单元并将其放置在设备中即可。该装置施加给定的压力,同时测量粉末的电阻率和压制密度。
测量范围:10⁻²至10⁶Ω。
样品尺寸:**300mm见方。
应用领域广泛:适用于金属、金属薄膜、导电涂层、导电薄膜、片材等多种材料的电阻率测量。
膜厚和成分变化检测:导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。
电子元件和材料开发:可用于电子元件和材料的开发和质量控制。
T-10
TR5-1型
AM系列
CNP系列
2.0
HSR-80
MJ-100
EHN-R系列
1.0
HS-12
ANF-30型
AGI-HOMO MIXER 2M-2型、2M-5型