粉体行业在线展览
MRS-OM40
面议
MRS-OM40
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镁伽全自动 〇verlay 量测设备 MRS-OM40,适用于光刻制程单面、双面、红外 Overlay 自动量测,配置可见光和红外光显微成像系统,具备高速、高精度、多功能量测能力,是 MEMS 晶圆厂、芯片制程黄光区进行产品良率管理的关键设备。
方盘量程200g精度0.1g
库赛姆(COXEM)EM-30超高分辨率台式扫描电镜
智能微波多普勒开关
Nanotron
LUGB
HZDL-ZC9A
BYQ3110PK
WLDR-1000
ICS-17电子皮带
RT CT-01B