三级拉曼显微光谱系统 （Model: Trivista CRS+）

德国S&I GmbH TriVista CRS+ 产品定位：多功能开放式自动化“光谱成像综合分析系统”。

TriVista CRS+ 三级显微拉曼光谱仪，高性能模块化设计，具有以下优势：

1. 集成多功能：如拉曼，荧光，暗场光谱，TCSPC荧光寿命，变温红外光谱，时间分辨光谱等；

2. 适用性宽：结合多种测试环境要求，如大样品光路系统，低温，强磁，高温，AFM。

3. 开放性强：可集成多路激光器，四个探测器，四个狭缝入口；

4. 超高光谱分辨率：0.14cm-1(加模式); 超低波数拉曼性能：>=5cm-1(减模式)

5. 系统自动控制与高可靠性，系统设计合理，结构稳定，光路不受温度影响，不需专业人员维护

6. 与OPO连续可调波长激光器搭配做共振吸收拉曼，软件控制波长扫描，适于如碳管拉曼测试研究。

TriVista CRS+ 性能：

·激光器深紫外到近红外波长范围

·多达内置4个波长激光器，

·外置外接大型激光器

·紫外和可见光/近红外双光束路径

·自动控制激光选择

·自动对准，聚焦和校准功能

·超高拉曼光谱分辨率 ＜0.14cm-1 @ 633 nm

·低波数拉曼，可测试到 +/- 5 cm-1

·高波数范围: 9000cm-1（@ 532nm）

·热电制冷和液氮制冷探测器

·正置/倒置/双显微镜

·空间分辨率：XY 1um; Z 2um

·步进电机和压电驱动XYZ位移台

·快速3D拉曼Mapping

·荧光寿命成像Mapping功能

·集成控制液氮温度冷热台

·集成液氦温度低温恒温器

·可结合拉曼成像和原子力显微镜成像

·自动控制的偏振光谱功能

·大样品箱，可放置固体样品，粉末样品，薄膜样品，比色皿池，任意解度激发

TriVista CRS+ 系统结构原理

三级联光谱仪的参数性能

加模式（1+2+3） 减模式（1-2+3）减模式1级光栅与2级光栅反向旋转，重新合光，利用狭缝的精密控制以消除激光瑞利线。

加模式/减模式同一光路，软件切换无需校正光路

VISTACONTROL跨平台控制系统

激光器自动选择，

光路的自动对准波长和强度自动校准功能

VistaControl硬件控制界面

加热、冷却阶段和低温状态的温度控制

自动Z轴聚焦拉曼成像

快速拉曼/荧光/寿命 Mapping

荧光和背景抑制

光谱库匹配数据（物质成份分析）

与原子力显微镜（AFM）连用并控制

各种数据格式导出，各种后处理程序

拓展延伸光路，与外置低温台，SEM，连用

大样品箱，可放置固体样品，粉末样品，薄膜样品，比色皿池，测吸收，透射，正反射，任意角度激发