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显微拉曼荧光寿命成像系统

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产品介绍

显微拉曼荧光寿命成像系统

德国S&I GmbH成立于1995年,是一家专门从事科研级拉曼光谱分析设备的制造公司,也是美国普林斯顿仪器(Princeton Instruments)在欧洲的OEM客户,其设备以优异的灵活性,高灵敏及易操作性著称。

MonoVista CRS+系列产品定位:服务于科学研究的强大“光谱成像综合分析平台”。

l S&I公司擅长于提供各种科研级定制化的解决方案;

l 根据用户的应用需求,适用并可拓展不同的配置;

l 在保证系统自动控制与高可靠性情况下,适合各种光学测试;

l 显微拉曼光谱 /显微荧光 / 荧光寿命TCSPC成像/

l 变温红外光谱 / 时间分辨光谱 / 暗场光谱/

l 适用高压科学研究要求的开放式测试环境,如大样品系统,低温,强磁,高温等。

l Monovista CRS+系统是基于共聚焦显微镜设计的多功能光谱成像分析系统;

l 应用领域:高压科学材料,半导体材料特性,碳纳米材料,钙钛矿材料,生物细胞研究等

MonoVista CRS+ 特点:

·激光器深紫外到近红外波长范围

·多达内置4个波长激光器,

·外置外接大型激光器

·紫外和可见光/近红外双光束路径

·自动控制激光选择

·自动对准,聚焦和校准功能

·超高拉曼光谱分辨率 <0.9cm-1 @ 633 nm

·低波数拉曼,可测试到 +/- 10 cm-1

·高波数范围: 9000cm-1(@ 532nm)

·热电制冷和液氮制冷探测器

·正置/倒置/双显微镜

·空间分辨率:XY 1um; Z 2um

·步进电机和压电驱动XYZ位移台

·快速3D拉曼Mapping

·荧光寿命成像Mapping功能

·集成控制液氮温度冷热台

·集成液氦温度低温恒温器

·可结合拉曼成像和原子力显微镜成像

·自动控制的偏振光谱功能

L-Crystine的超低波数拉曼(正反斯托克斯)

CCL4的超高拉曼分辨率

TCSPC荧光寿命测试功能

2 激光波长从375纳米到810纳米

2 时间通道数:65536 ,分辨精度:4ps

2 各通道采集延时调节范围 :± 100 ns,

2 寿命时间抖动误差:<12ps

2 **计数率:10MHz; **同步率:84 MHz

2 多种探测器选项,探测器通道:2个

2 二维寿命成像,XY扫描压电位移台

2 扫描台,范围可达几厘米,XY扫描精度优于500nm

2 固有响应时间:95ns

2 仪器响应函数(IRF)<200ps

荧光寿命测试曲线

荧光寿命Mapping

VistaControl硬件控制界面

拉曼Mapping与显微图像对比

MonoVista CRS+ 定制系统应用案例

Monovista显微光路+宏光路拉曼+AFM

Monovista与低温,强磁测试条件(HPSTAR)

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