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复合探针影像测量仪

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北京品智创思精密仪器有限公司

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产品介绍

产品名称:复合探针影像测量仪

产品型号:PZ-3020T

产品简介:该仪器适用于以二坐标测量为目的一切应用领域。在机械、电子、钟表、塑胶、模具等行业被广泛使用。

仪器特点:

复合探针影像测量仪探针主要应用于接触式测量,影像与探针配合,互补满足:空间高度、空间平面度、圆柱、圆锥、球、空间点、空间面等元素的测量。在高精度测量要求的汽车配件,模具零部测量的广泛应用。强大的VCAD-3D测量软件,可实现所有二维平面测量功能,还具备拍地图、产品轮廓扫描、专业SPC统计、手动CNC、宏测量等功能。自带“RENISHAW”测头可实现部分三维尺寸接触式测量。

技术参数:

-

仪器型号

PZ-3020T

PZ-4030T

PZ-5040T

量测行程

300*200*220mm(X.Y.Z)

400*300*220mm(X.Y.Z)

500*400*220mm(X.Y.Z)

X.Y.Z*小显示值

0.0005mm

测量精度

X.Y Axis:(3+L/200)μm

重复精度

3μm

影像放大倍率

24~156X(可扩展至12~312X)

测量方式

影像式+探针

CCD

43万像素彩色高清晰度摄影机(SONY芯片)

镜头

高清晰度0.7~4.5Xzoom光变焦镜头

测头

英国RENISHAW MCP10 ¢2mm测头

工作距离

115mm(影像)

电脑

品牌电脑

测量软体

VCAD-3D

仪器基座

000级高稳定性花岗石底座

照明

上、下光源均采用可调亮度LED无影灯

外观尺寸

700*650*950mm

980*750*950mm

1050*800*950mm

仪器重量

180KG

300KG

500KG

测量软件介绍:

一、直接元素测量

能测量12种元素(点、直接、圆、圆弧、椭圆、矩形、槽形、O形环、距离、角度、开运线、闭云线)。测量方法多样(自动判别测量、采点测量,对比测量、公差对比测量,预置元素)。单点采集方法有多种:可鼠标采点,十字线寻边采点,放大采点,直线采点,鼠标自动捕捉。

二、间接测量

两元素之间的距离,两边夹角,多点构成平面的平面度等,都可以通过软件的构造功能来实现。可以构造的元素有:点,线,圆,弧,角度,平面等

三、影像测量高度差

先在一个平面聚焦,软件会记录一个平面的ZUI高点数据,然后在另一个面聚集,软件同样会记录下一个点的数据,软件通过亮点的坐标计算出两个面的高度差,误差小于0.005mm。

四、扫描功能

可以把一个工件的轮廓扫描出来,然后转到CAD进行编辑,得出了设计图纸,从而得到此工件的数据,实现二维抄数。

五、地图功能

可以可一个工件完整的图片拍出,在图片进行测量和标注。图片可以储存,在调出进行测量。

六、宏测量

宏测量功能就是,将一连串相同的"构造测量",构造命令关联到一个按钮上,点击按钮,即开始执行宏测量功能,宏测量功能会自动完成构造动作,减少用户操作鼠标次数,提高工作效率。

七、模板测量

模板测量方法,也是目测方法的一种,主要是通过用户眼睛目测,看是否合格,类似于投影仪上用到的标准规格板。

模板测量,主要有十字线模板,方格模板和同心圆模板。

十字线模板主要用来测量角度,方格模板主要是用来测量距离,通信团模板主要用来测量圆。

八、预置元素

软件可以在机械坐标系或者工作坐标系随便预置元素。

九、坐标系建立

可以随便建立多个工件坐标系,然后十字线随坐标旋转,因此不用去摆正元件。建立工件坐标系的还一个好处就是保持跟图纸一样的基准,这样测量时可以得到X和Y向距离。

十、数据输出

测量完的数据不需要用手去抄写,可以直接导出到Word、Excel、Tct、Cad然后打印。

十一、专业SPC统计分析 PROFESSIONALSPC STATISTICS ANALYSIS

将测量数据导入SPC可以生成常用的管制图,计理值管制图有;平均数全剧管制图,平均数标准差管制图,中位数全距管制图,个别值与移动全距管制图,直方图,CPK推移图,规格与制程标准管制图,制程状态分析图,制程建议分析图等。对生成的图形可以利用八大判定规则进行判定,为用户对产品品质状态及时了解,对于计数值数据还提供了单质量监控,及时了解产品状态。

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复合探针影像测量仪

北京品智创思精密仪器有限公司

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