粉体行业在线展览

产品

产品>

分析仪器设备>

光学仪器及设备

>美国Hinds应力双折射测量系统

美国Hinds应力双折射测量系统

直接联系

弘度科学仪器(上海)有限公司

美国

产品规格型号
参考报价:

面议

关注度:

687

产品介绍

美国Hinds成立于1971年,凭借其**的PEM(光弹变调制)技术研发了高稳定的应力双折射测量系统,具有目前世界上**的精度,可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角度).

?光学器件

?液晶玻璃基板, 液晶滤光片

?激光晶体

?DVDs

?光刻机部件, 如氟化钙窗口, 融石英光学器件,光掩膜板等

?相机镜头

?太阳能硅片,半导体晶圆

产品咨询

美国Hinds应力双折射测量系统

弘度科学仪器(上海)有限公司

请填写您的姓名:*

请填写您的电话:*

请填写您的邮箱:*

请填写您的单位/公司名称:*

请提出您的问题:*

您需要的服务:

发送

中国粉体网保护您的隐私权:请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站,表明您接受 我们的使用条款

美国Hinds应力双折射测量系统 - 687
弘度科学仪器(上海)有限公司 的其他产品

FLOW

光学仪器及设备
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2024 版权所有 - 京ICP证050428号