光学仪器及设备-残余应力测量仪PA-Micro-北京欧屹科技有限公司-产品详情

残余应力测量仪PA-Micro

直接联系

北京欧屹科技有限公司

日本

产品规格型号

参考报价：

面议

关注度：

460

产品介绍

主要特点：
操作简单，测量速度可以快到3秒。
视野范围内可一次测量，测量范围广。
更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
高达2056x2464像素的偏振相机。
应用领域：
通信光纤
晶体
技术参数：
项次
项目
具体参数
1
输出项目
相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】
2
测量波长
520nm
3
双折射测量范围
0-130nm
4
测量*小分辨率
0.001nm
5
测量重复精度
<1nm（西格玛）
6
视野尺寸
142x170um到3.5x4.2mm(×2，×5，×10，×20，×50)
7
选配镜头视野
无
8
选配功能
实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制
测量案例：

获取更多信息，请访北京欧屹科技有限公司网站

产品咨询

残余应力测量仪PA-Micro

北京欧屹科技有限公司

请填写您的姓名：*

请填写您的电话：*

请填写您的邮箱：*

请填写您的单位/公司名称：*

请提出您的问题：*

您需要的服务：

询盘报价、价格查询

发送产品资料

与您电话联系

发送

中国粉体网保护您的隐私权：请参阅我们的保密政策来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。您继续访问我们的网站，表明您接受我们的使用条款

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】

2	测量波长	520nm

3	双折射测量范围	0-130nm

4	测量*小分辨率	0.001nm

5	测量重复精度	<1nm（西格玛）

6	视野尺寸	142x170um到3.5x4.2mm(×2，×5，×10，×20，×50)

7	选配镜头视野	无

8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制