光学仪器及设备-PHL应力双折射测量仪PA-300-北京欧屹科技有限公司-产品详情

PHL应力双折射测量仪PA-300

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产品介绍

主要简介：

PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其**技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。

主要特点：

操作简单，测量速度可以快到3秒。
视野范围内可一次测量，测量范围广。
更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
高达2056x2464像素的偏振相机。

应用领域：

光学镜片
智能手机玻璃基板
碳化硅，蓝宝石等

技术参数：

项次	项目	具体参数
1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】

2	测量波长	520nm

3	双折射测量范围	0-130nm

4	测量*小分辨率	0.001nm

5	测量重复精度	<1nm（西格玛）

6	视野尺寸	27x36mm到99x132mm（标准）

7	选配镜头视野	低至7x8.4（扩束镜头）

8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

测量案例：

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PHL应力双折射测量仪PA-300

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