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激光共焦多维成像系统:
FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统:
ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps (@256×256),自由选择1×1到4096×4096像元分辨率;同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据,保持单分子级的检测灵敏度。
用于化学、纳米、能源、生物等学科方向,单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。
ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任,实现共焦三维扫描模块(针孔,二维振镜、压电台或自动工作台)和时间分辨模块的**结合,提供<100ps-100ms的全时域荧光寿命检测;同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术,可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。
荧光寿命成像数据分析进入直读时代。
ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统,还可以同时满足以下特殊需要:
1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像;
2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像;
3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像;
4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ;
5. 光谱采集及光谱成像;
6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用;
7. 纳米颗粒三维跟踪;(专有技术)
主要功能描述:(可以选择双光子功能)
激光共焦荧光强度成像LCM;
荧光寿命成像FLIM,磷光寿命成像PLIM;
上转换荧光(寿命)成像,稀土发光(寿命)成像,延迟荧光(寿命)成像;
荧光波动成像FFS(FCS,FCCS, PCH,N&B, RICS, FLCS,scan-FCS),
FLIM-FRET成像;荧光定量成像;
单量子点发光(寿命)成像,单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET,包括交替激发PIE成像;
稳态及瞬态偏振成像;
微区荧光光谱采集 400-1100nm;
反聚束测试(含专业软件);
活细胞工作站升级(含多孔板)
仪器特点:
实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势,FRET效率分布;
选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器,2-4通道检测器,用于成像,FLIM-FRET;
可以升级无波长干扰AFM(正置或倒置),实现同区域形貌和FLIM同步测试;
紫外-可见-红外激发波长,单波长或超连续激光器;单光子或双光子的激光器;
主要技术指标
1. 荧光寿命测试范围:100ps-100ms;
2. *小时间分辨率≤1ps;
3. 数据计数速率:65 MHz/channel
4. 检测通道:upto 8 channels;
5. 标配xy振镜扫描,5kHz扫描频率,配合xy闭环自动台实现大区域扫描;
6. Phasor plots 用于数据分析;
7. 光谱采集;400-1100nm
8. 扫描透射成像;
9. 界面聚焦系统;
10. 变温附件;77k-500k;