仪器简介：

工作模式 • 反射式NSOM，通过样品反射光强度进行成像，扫描过程，样品经由探针孔径光照明，反射光耦合到显微镜物镜，并经过PMT探测；

• 荧光NSOM允许局域荧光成像，样品经由探针孔径光照明，透射光经显微镜物镜及滤光片，由PMT探测；

• 透射NSOM可以进行透明样品的成像，透射光同样被倒置光学显微镜收集并由PMT探测。

激光波长选项

Trestles 20/50/100 700-950nm

Mavericks65 1240-1270nm

Tamarak-Er 1540-1560nm

技术参数：

参数

扫描方式（根据样品或探针可选）

测量头扫描范围 80×80×3.5um（+/-10%）

*小扫描步长 0.009nm

X，Y样品台移动范围 5×5mm

移动精度 5um

样品尺寸 可达Φ100×10mm

X，Y闭环控制平台

X，Y范围 100×100um

固有非线形 优于0.2%

精度 2nm

重复性 30nm（典型），小于全程0.2%

**承重 2Kg

照明激光器

脉冲长度 <50fs

输出功率 >100mW

重复频率 >80MHz

波长范围 740-950nm

主要特点：

特 点

切向力反馈

纳米精度光学成像

反射和透过工作模式

飞秒脉冲或波长可调连续激光照明

光谱测量（可选）