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Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时,保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术于一身,用户因此能够进行真正意义上的联合多技术分析,从而为微电子、超薄薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。
描述
材料分析和开发
Nexsa 能谱仪具有分析灵活性,可**限度地发挥材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时,以可选多技术联合的形式提供灵活性,从而实现真正意义上多技术联合的分析检测和高通量。
标准化功能催生强大性能:
·绝缘体分析
·高性能XPS性能
·深度剖析
·多技术联合
·双模式离子源,使深度剖析功能得到扩展
·用于 ARXPS 测量的倾斜模块
·用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件
·小束斑分析
可选的升级:可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行
·ISS:离子散射谱,分析材料*表面1-2原子层元素信息,通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。
·UPS:紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息
·拉曼:拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息
·REELS:反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息
SnapMap
借助 SnapMap 的光学视图,聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域,同时生成完全聚焦的 XPS 图像,以进一步设置您的实验。
1.X 射线照射样品上的一个小区域。
2.收集来自这一小区域的光电子并将其收集于分析仪
3.随着样品台的移动,不断收集元素图谱
4.在整个数据采集过程中监测样品台位置,这些位置的图谱成像用来生成 SnapMap
应用领域
·电池
·生物医药
·催化剂
·陶瓷
·玻璃涂层
·石墨烯
·金属和氧化物
·纳米材料
·OLED
·聚合物
·半导体
·太阳能电池
·薄膜
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能谱仪
ARL X'TRA Companion X射线衍射仪
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M