技术参数：

ARL Quant’X 荧光能谱仪

应对RoHS指令 ――快速分析

超大Si(Li) 晶体，具有极高的痕量分析的灵敏度，打破lng的检测限壁垒

全数字脉冲处理器技术，死时间达60%， 以及优异的峰背比

高级FP无标样分析软件，进行无标样分析，减少对标样的依赖性

高灵敏电制冷Si(Li) 探测器技术， 仪器免维护和零费用运行

超大样品室，可容纳300mm*(乘号)400mm的样品

全自动校准，自动监测，自动报警系统，完全计算机控制

镀层和薄膜测量技术， 具有无标样分析测厚技术

主要特点：

ARL Quant’X 荧光能谱仪

具有广泛的应用如:ROHS-WEEE电子废弃物中重元素分析，各种合金及贵金属成分分析，环境污染气溶胶的测度， 考古文物保护，刑侦痕量分析，营养品分析，磁性介质和半导体的薄膜渡层厚度分析，各种油品中成分分析，纳米至微米镀层厚度测量，土壤，催化剂，矿石，原材料等.

用于材料的无损分析可选择液氮致冷或电致冷Si(Li) 探测器 从氟至铀的多元素分析测定的浓度范围一般可以从ppm级至100% 技术参数