粉体行业在线展览
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对于要求苛刻的应用,或者分析时间或样品通量为关键的情况下,理学提供新型NEX QC+光谱仪。使用新一代硅探测器技术,增强的NEX QC+在元素峰分辨率和计数统计中提供显著改善,从而为**挑战性的测量提供高级校正和测量精度。
理学公司推出的新型的NEX QC+为常规的质量管理应用程序做了特别的设计。新型NEX QC+设计了一个操作简便且直观的“图标驱动”触屏界面,此外,仪器中内置打印机便于使用。
50kV的X射线管和Peltier冷却半导体检测器提供特殊的短期重复性和长期重复性。该电压**可达50kV,与多个自动X射线管滤光片结合,提供了广泛的应用程序的多功能性和低限制的检测(LOD)。
选购附件包括FP法、自动样品转换器、旋转样品台和氦气净化器(增强轻元素的灵敏度)。主要特点
·非破坏性分析元素11Na到92U
·适用于固体、液体、合金、粉末和薄膜样品
·50kV 的X射线管可分析广泛的元素范围
·半导体检测器可获得优质数据
·现代智能手机样式的“图标驱动”用户界面
·多个自动X射线管滤光片可增强灵敏度
·内置热敏打印机便于使用
·性价比高
·选购附件FP法
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能谱仪
ARL X'TRA Companion X射线衍射仪
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M