D8 ADVANCE---剖析藏在样品中秘密

X射线衍射（XRD）是一种理想的、非破坏性的、可应用于大部分类型样品的无损分析方法！

X射线衍射可用于晶相的确定，含量检测以及原子结构的测定。样品用量少，消除了可能产生的样品物相被破坏和性质改变的风险。

在实际应用中，对除X射线衍射外的其他方法，复杂组分样品的测量一直是一个艰巨的挑战。对于X射线衍射，衍射图谱中所有的细节信息都是有价值的，且会被考虑到，并*终使样品表征充分。

衍射图谱由峰位置、强度和峰形组成，它代表了样品的独有特征。利用这些衍射信息，可推断出样品的性质，同时获取如下的信息：

从粉末到薄膜轻松的切换---TWIN/TWIN!

试想以下各种不同应用的切换：物相分析和反射率分析（XRR）、掠入射(GID)和微区衍射、小角散射（SAXS）和透射、残余应力和结构解析，是否可以不用手去更换这些精密的光学元件，就准确地完成呢？

Yes！我们可以! 因为我们D8 ADVANCE达芬奇设计拥有：TWIN/TWIN技术！

点线焦斑的切换，不再是问题---TWIST TUBE

现在，有了光管旋转技术---布鲁克AXSzhuan利技术，点线焦斑的切换不再困难，方便自如！

您只需要：松动固定的螺丝，旋转管投至确定的位置，然后旋紧螺丝，OK！达芬奇模式处理剩余的问题，自动识别，自动调整。