高灵敏度XRF重金属分析仪（HS XRF^®）

一、概述

核心技术：

硬件：单色化聚焦技术HS XRF^®

软件：快速基本参数法Fast FP^®

PHECDA-PRO

l硬件核心技术：单色化聚焦激发技术

全聚焦双曲面弯晶仅衍射X射线管出射谱中高强特征X射线，将入射到样品的X射线单色化并聚焦到样品一点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。

单色化聚焦激发技术

l软件核心技术：快速基本参数法

XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，对于不同类型样品的定量分析带来挑战。

快速基本参数法（Fast FP^®）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素精确定量分析结果。 Fast FP快速基本参数法

二、应用领域与解决方案

高灵敏度XRF重金属分析仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案：

三、特点优势

高灵敏度XRF重金属分析仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升了元素精确定量水平，两项关键技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。

l单色化聚集激发技术

高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。

l采用**性能SDD探测器

硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、**计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今**性能的SDD探测器，确保元素分析性能。

lFast FP算法

XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。

基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。

l优化镉元素检出能力

镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度XRF重金属分析仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到****的0.06mg/kg水平。

l便携性

无需气体、真空等辅助设备

**程度保证现场检测要求

四、应用

l痕量元素检出能力

单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪是安科慧生的**技术，依赖全聚焦性双曲面弯晶单色化聚焦技术，提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景，大幅提升样品元素信噪比，从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。

l软件精确定量能力

安科慧生科研人员历时十几年开发当今*为先进的快速基本参数法（Fast FP），其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。

声明：1.高灵敏度X射线荧光光谱仪是安科慧生***，任何侵权行为有可能诉讼法律解决；

2.详细技术参数与应用，请随时与安科慧生工作人员联系！