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DIATEST内径表式测量系统
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北京地泰科盛科技有限公司
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地泰科盛
DIATEST内径表式测量系统
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特性
测置方法:比较法测量，:需要校准件。测头:带硬质合金测点，中心桥型构造可以自动定中心。测砧:硬质合金，半径为8.0mm，
测力:测力恒定，
手柄:多种手柄选择，具有隔热的特点，可减少温度对测置值的影响。
校准:环规或千分尺
附件:转角，深度延长杆，深度挡块等。
显示:显示装置连接孔径为中8h6，可连接指针表、数显表、
传感器等。
成套包舍:测头，测砧，延长杆，手柄，指示表，校准配件，木盒，扳手。
成套购买价格忧惠
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