粉体行业在线展览
TOPCON拓普康芯片外观检测设备Vi4202
面议
佳鼎半导体
TOPCON拓普康芯片外观检测设备Vi4202
437
TOPCON拓普康芯片外观检测设备Vi4202可以全自动检查在晶片上图案化的芯片和在扩展前切割的晶片(表面朝上/背面朝上)中的微小异物和缺陷,并以芯片为单位确定合格与否。
环境条件:
温度范围:20~27℃;
湿度范围:50%±20%以内;
环境洁净度:1000级;
安装底板每个轴振幅:<64μm;
槽式清洗机 Ultron B200
单片式湿法清洗设备 Ultron S200/S300
全自动晶圆清洗机 AWS150
SCREEN二手清洗设备WS-820L
SUSS半自动湿法处理设备AD12
球差场发射透射电子显微镜 HF5000
超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列
AMAT 半导体检测设备 SEMVision G2
KLA无图案晶圆缺陷检测系统Surfscan SP2
TOPCON拓普康芯片外观检测设备Vi4202
PVA TEPLA / TECHNICS GIGA 690二手现货刻蚀机
PVA TEPLA / TECHNICS GIGABATCH 360M刻蚀机