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SAM 大视场扫描系统
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PVA TePla
SAM 大视场扫描系统
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SAM大视场系列是专门为分析DCB’s或电源模块而开发的产品系列，可支持检测扫描范围为300µm x 300µm到1300mm x 1300mm。多至8个传感器可实现超高检测通过率。该系统包括自动缺陷审查软件、GEM/SECS通讯，以及MES通讯。
激光打标站和分类输出端口可供选择。
PlasmaPen™ 大气式等离子系统
PlasmaPen™ 大气式等离子机
射频等离子机
IoN系列等离子系统
条形等离子系统 80 Plus
批量封装处理系统 等离子系统 GIGA690
单晶片系统
GIGAbatch 310M等离子系统
SAM 大视场扫描系统
PVA TePla SAM系列的超声波扫描显微镜
VPD量测系统
雷射量测系统
电脑组合体系VG42
重量选别称
UNI800C多物料配料控制仪
配料计量系统
在线HPXRF检测设备
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
片式电容四参数测试机
0～10%糖度
三路浮子流量计 MFC-3F
Oilwear 在线油液清洁度检测仪
GJT-2F系列金属探测仪
