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穿透式影像检测系统

穿透式影像检测系统

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雄迈电子科技贸易（上海）有限公司

上海

产品规格型号
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面议

品牌：

雄迈电子

型号：

穿透式影像检测系统

关注度：

177

产品介绍

  • phoenix的micromelx neo和nanomelx neo 系列产品将高分辨率的2D X射线技术和3D CT技术**地集成于一套系统。多项独特的创新设计，以及极高的定位精度，使得这套系统成为科学研究、缺陷分析、过程和质量控制等领域可靠有效的解决方案。
     

    全新钻石靶材全新钻石靶材FLASHTM

    FLASHTM

     

    Planar CT平面CT系统，提供切片以及整个立体结构的影像
    完成Planar CT后 无上下重迭影像传统2D影像 影像重迭较难分析

    左上：完成Planar CT 后，无上下重迭影像
    右下：传统2D影像，影像重迭较难分析

     

    标准CT计算机断层扫描
    打线影像

    打线影像


    • 高解析CT隐用，可以找出半导体封装常见缺陷

    • CT影像适合针对RD硏究分析或是缺陷样品进行细微分析与观察

    • 低voxel size可达2um, 特殊条件下可以更低

    • 轻瘾完成大型电路板的2D切片以及3D影像

    • 无须裁切大型电路板，并且针对多层结构不会有重迭影像的问题

    • 透过软件简军快速地进行滤波效果

    • 将黑白对比更突显出来，有效的观察缺陷位置

    • 高输出功率以及高分辨率

    • 在长时间使用下可以稳定焦点

    • CT扫描速度提高2倍


    获取更多信息，请访雄迈电子科技贸易（上海）有限公司 网站

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    穿透式影像检测系统

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