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QT-6000 分立器件高速测试系统
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联动科技
QT-6000 分立器件高速测试系统
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· 高速测试,UPH>40K
· 可一拖二实现100% FT+QA并行测试
· 先进的电容高速测试方案,实现CAP+DC同工位测试
· 内置UIS测试方案,实现DC+UIS同工位测试
· LCR精准电容测试,*小测试电容值100fF
主要技术指标:
测量精度 | 电流:<0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5nA 电压:<0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5mV 电容:0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 10fF |
技术指标 | **电流 电压30A /1200V 电容表测量范围:0.2-300pF(BIAS电压范围0-80V, 1MHz) LCR测量范围:0.1pF-0.1uF(BIAS电压范围0-30V, 1MHZ) |
分辨率 | 16 bit ADC/DAC |
波形记录 | 内部示波器 |
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