粉体行业在线展览
PS-400C
200-500万元
日本KOWA
PS-400C
973
12
粒子扫描系统PS-400C被广泛用于颗粒(粒子)的光学质量控制,对应期望处理量的不同,系统可以检测100微米以上的缺陷比如黑点、色差以及其他用户定义缺陷, 并将缺陷分为10个尺寸级别。此系统设计用于粒子生产原料的质量控制。所有的检测过程全自动执行,每个粒子都无遗漏地被检测分析。其主要应用于
PS-400C由机械部分和控制工作站两部分组成。机械装置负责待检测粒子的收集、分离并分散通过检测单元。
工作站包含图像处理单元和评估图像的硬件,用户界面如用户对话框通过显示器和键盘操作,图像可以在显示器上显示出来。
粒子样品先放置于料斗中,一个机械分离器使得粒子样品分散通过检测模块,此处两个相向配置的摄像机从两面拍摄获得材料的影像。
TB-01
Macpycno
MT-1001K
SSA-999W
0.05
PS-400C
PCS600BDS
φ0.3
KYT-5000
CLX-503DM
UDP-2
YTZ
SQ系列
BTDKS-1200BL
K421C8–512V4.5
KS4-1200B
LK1504-1Z
Xprep C-IC
Aisort Aisort BS182V、BS122V、BS062V
色选机 SORTEX A DualVision
JTKS-256A
泰禾光电
Msort AF&AK