一、引言

在显示面板、高端光学玻璃、建筑玻璃等领域，大尺寸材料的双折射与残余应力，直接影响产品光学性能、显示均匀性与结构可靠性。尤其是 LCD 行业第 5 代 + 补偿膜、大尺寸玻璃基板，传统检测设备存在扫描速度慢、行程不足、精度不足等痛点，难以满足规模化生产的检测需求。美国 Hinds Instruments 作为全球双折射测量技术的领军企业，其 Exicor® GEN 系列双折射测量系统，凭借大幅面行程、亚纳米级精度与高速扫描技术，成为大尺寸显示材料检测的首选设备，为显示面板、光学玻璃等行业提供核心技术支撑。

二、Exicor GEN 系列核心技术原理

Exicor® GEN 系列系统的核心优势，源于 Hinds Instruments 自主研发的 PEMLabs™光弹性调制器（PEM）技术与精密自动化运动控制技术。系统通过 PEM 对激光束进行 50kHz 高频偏振调制，调制光束穿透被测样品后，由 Signaloc™锁相放大器解调超低噪声信号，精准计算出双折射延迟量、快轴方向与残余应力，实现 0.001nm 级的超高测量精度。

针对大尺寸样品，系统采用专利高张力钢丝网载台设计，最大化样品可测量区域，同时大幅减少样品下垂与弯曲，保障大尺寸薄型材料的测量精度；可选配 Scan in Motion™（SIM）高速扫描技术，实现样品台移动与数据采集同步进行，无需停顿等待，最快仅需 12 分钟即可完成大尺寸样品的全域检测，大幅提升检测效率，适配产线批量检测需求。

三、核心结构与型号优势

Exicor® GEN 系列覆盖全场景大尺寸检测需求，核心结构设计适配不同行业应用：

1. 大幅面行程设计：GEN5 系统标准可扫描区域达 1150mm×1375mm，支持扩展至更大尺寸，完美适配 LCD 行业第 5 代 + 补偿膜、大尺寸玻璃基板等超大样品的检测需求，同时兼容早期 generation 型号，可适配不同规格样品。

2. 专利载台技术：采用高张力钢丝网载台，在支撑大尺寸薄型样品的同时，最大限度减少样品下垂与弯曲，保障全域测量精度，解决了大尺寸样品检测的核心痛点。

3. 灵活定制化设计：支持定制舞台测量区域、定制波长（可见光、近红外）、定制软件与定制系统，可适配显示面板、商业窗玻璃、片材材料等不同行业、不同材料的专属检测需求。

4. 多形态机型可选：提供卧式、立式等多种机型设计，适配不同生产场景与样品形态，同时支持双探头配置（如 GEN9.2X），进一步提升检测效率。

四、核心性能与技术优势

Exicor® GEN 系列以超高精度、大幅面行程、高速扫描为核心，性能指标全面领先行业：

• 亚纳米级超高精度：延迟分辨率达 0.001nm，重复性低至 ±0.008nm，角度分辨率 0.01°，可捕捉材料内部微纳级应力变化，满足显示面板、高端光学的严苛检测要求。

• 极致高速扫描能力：可选配 Scan in Motion™高速扫描技术，最高采样速率达 100 样本 / 秒，最快 12 分钟完成大尺寸样品全域检测，大幅提升产线检测效率。

• 全维度可视化分析：自动生成双轴晶格的 2D 和 3D 图形表示，直观呈现应力分布，支持厚度和翘曲度测量、应力估算计算（PSI），助力工艺优化与质量管控。

• 宽范围测量能力：延迟测量范围覆盖 0.005 到 300 纳米，测量斑点直径约 1 毫米原生，最低可至 100 微米，适配不同材料、不同厚度的检测需求。

• 稳定可靠的设计：无移动光学部件设计，测量过程中无需反复调整光学元件，从根源上提升测量准确性与长期稳定性，保障数据一致性。

五、行业应用场景

1. 显示面板领域：核心应用于 LCD/OLED 行业第 5 代 + 补偿膜、玻璃基板的质量评估，精准检测材料内部应力分布，提升显示均匀性与产品可靠性，是全球顶尖面板厂商的核心检测设备。

2. 光学玻璃领域：适配大尺寸光学玻璃、商业窗玻璃、建筑玻璃的双折射与应力检测，优化玻璃生产工艺，保障光学性能与结构稳定性。

3. 新材料研发领域：支撑新型显示材料、光学薄膜、高分子材料的应力性能研发，为新材料配方优化、工艺改进提供数据支撑。

4. 半导体与光学器件领域：适配大尺寸半导体基板、光学窗口等材料的应力检测，保障高端光学器件的性能与可靠性。

六、结语

美国 Hinds Instruments Exicor® GEN 系列双折射测量系统，以大幅面行程、亚纳米级精度、高速扫描技术三大核心优势，成为大尺寸显示材料、光学玻璃检测领域的标杆设备。无论是显示面板产线中的批量质量管控，还是新材料研发中的性能表征，该系列设备都能提供精准、高效、稳定的检测解决方案，助力企业提升产品质量、优化生产工艺，在高端显示与光学制造领域实现技术突破。

产品信息（结构化呈现，适配平台要求）

品牌：Hinds Instruments（美国）产品：Exicor® GEN 系列 双折射（应力）测量系统核心型号：GEN5、GEN6、GEN9.2X 等全系列核心参数：延迟分辨率 0.001nm，最高采样速率 100 样本 / 秒，标准行程 1150mm×1375mm，角度分辨率 0.01°核心功能：Scan in Motion™高速扫描、专利钢丝网载台、2D/3D 应力可视化、厚度翘曲度测量适用领域：LCD/OLED 显示面板、大尺寸玻璃基板、光学玻璃、新材料研发等