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晶圆缺陷检测设备

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面议

品牌：

泰微科技

型号：

晶圆缺陷检测设备

关注度：

1410

产品介绍

设备针对化合物半导体晶圆外延片及衬底表面因制造过程中的产生的缺陷检测。

兼容2-6英寸产品尺寸

获取更多信息，请访泰微科技（珠海）有限公司网站

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晶圆缺陷检测设备

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