粉体行业在线展览
光学元件激光损伤检测及预处理设备
面议
知常光电
光学元件激光损伤检测及预处理设备
1318
| 光学元件激光损伤检测及预处理设备 | |
| 型号 | LDT-2000-C |
| 测量波长 | 193nm、355nm、532nm、1064nm或其他客户定制波长 |
| 激光脉宽 | ~10ns |
| **测试激光通量 | ≥100J/cm² |
| 损伤点识别率 | ≥95% |
| 样品尺寸 | ≤150mm x 150mm(L x W)或客户定制 |
光学元件激光损伤检测及预处理设备(LDT-2000-C),主要用于测试光学元件的激光损伤阈值以保证放置于光路中的各类光学元件的强激光负载性能,应用范围包括光学元件激光损伤测试、体材料激光损伤测试镀膜工艺优化等。
筷子称
UNI800C多物料配料控制仪
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
在线HPXRF检测设备
在体皮肤拉曼分析仪
BSD-PB(气液法)
佐竹搅拌扭矩测试仪
μBenchCAT 反应评价装置系列
电子天平
0~10%糖度
J-CONTROL雷达料位计JFMCW-80C0A1A1A4A1