粉体行业在线展览
TC Wafer/RTD Wafer温度传感器
面议
和其光电
TC Wafer/RTD Wafer温度传感器
202
产品概述
TC Wafer/RTD Wafer直接镶嵌于晶圆表面的温度传感器,可以实现晶圆表面温度的实时测量。借助于放置在晶圆表面特定位置之间的温度传感器,可获得这些特定位置的真实温度测量值以及整片晶圆温度分布;同时也可利用此传感器来持续监控在热处理工程中晶圆暂态温度变化,例如:升温,降温过程及延迟周期等。
功能特点
测温精度高温区自动生成
安装便捷高可靠性
性能参数
HQ-39环网柜电缆接头荧光光纤测温装置
SF6微水密度在线监测系统
避雷器在线监测系统
开关柜局部放电在线监测系统
HQ-RTS-L系列 红外光学温度计
HQ-RTS-P系列 红外光学温度计
TC Wafer/RTD Wafer温度传感器
HQ-IC Wafer系列晶圆温度测量系统
红外光学温度计
测温光纤
转接光纤
贯通器